SEM原位拉伸超高溫?zé)崤_(tái) 參考價(jià)：380000
SEM原位拉伸超高溫?zé)崤_(tái)是一種安裝在掃描電鏡（SEM）上研究樣品原位變溫顯微結(jié)構(gòu)的附件（ 無(wú)需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)）。通過(guò)定制外接法蘭裝置 ， 操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷...
晶圓加熱裝置 參考價(jià)：面議
晶圓加熱盤(pán),晶圓加熱裝置在半導(dǎo)體制程過(guò)程中非常重要，特別是在一些關(guān)鍵工藝中，如晶圓退火、鍵合、勻膠、刻蝕、氣相沉積等，它可以提供穩(wěn)定的溫場(chǎng)環(huán)境及精密的盤(pán)面均勻溫...
CH600S-XY地質(zhì)冷熱臺(tái) 參考價(jià)：80000
探針冷熱臺(tái),果果儀器 CH600S-XY地質(zhì)冷熱臺(tái)是為地質(zhì)領(lǐng)域設(shè)計(jì)的。用來(lái)幫助我們更好地了解我們的星球及其地質(zhì)。該產(chǎn)品可幫助科研人員研究封存在礦物中的古流體和熔...
光學(xué)冷熱臺(tái) CH600S 參考價(jià)：70000
光學(xué)冷熱臺(tái) CH600S是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~60...
果果儀器 桌面式拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺(tái) 參考價(jià)：100000
果果儀器XRD冷熱臺(tái),桌面式拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺(tái)是一種安裝在萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~...
光學(xué) 顯微鏡冷熱臺(tái) 參考價(jià)：60000
光學(xué) 顯微鏡冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。
OLED變溫光電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：80000
果果儀器電化學(xué)電池,OLED變溫光電測(cè)試系統(tǒng)是一套研究OLED器件在不同溫度下電致發(fā)光性能的設(shè)備，主要包括冷熱臺(tái)、電學(xué)模塊、硅光電二極管、光譜儀以及數(shù)據(jù)采集軟件...
電化學(xué)電池測(cè)試光學(xué)冷熱臺(tái) 參考價(jià)：80000
電化學(xué)電池測(cè)試光學(xué)冷熱臺(tái)是針對(duì)電化學(xué)電池研究而設(shè)計(jì)的原位測(cè)試裝置，產(chǎn)品包括定制冷熱臺(tái)和溫控模塊構(gòu)成。
超高溫?zé)崤_(tái)H1500T 參考價(jià)：135000
超高溫?zé)崤_(tái)H1500T是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?？杀碚鳂悠饭鈱W(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~1500℃范圍內(nèi)精...
SEM冷熱臺(tái)SCH200 參考價(jià)：170000
SEM冷熱臺(tái)SCH200是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無(wú)需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測(cè)試的電鏡附件。SEM冷熱臺(tái)通過(guò)外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱...
超高溫?zé)崤_(tái)H1600 參考價(jià)：135000
果果儀器 超高溫?zé)崤_(tái)H1600是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?？杀碚鳂悠饭鈱W(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~1600℃...
果果儀器 超高溫?zé)崤_(tái)H1000 參考價(jià)：95000
果果儀器 超高溫?zé)崤_(tái)H1000是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?？杀碚鳂悠冯妼W(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~1000℃...
冷熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)、電學(xué)、力學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可實(shí)現(xiàn)從-190～600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)快速致冷或加熱，進(jìn)行高精度控...
高低溫試驗(yàn)箱 參考價(jià)：80000
果果儀器液氮溫箱,高低溫試驗(yàn)箱是一款針對(duì)樣品變溫測(cè)試的環(huán)境箱，同時(shí)滿足光學(xué)、電學(xué)等測(cè)試。通過(guò)向箱體內(nèi)通入低溫氮?dú)庵吕浜洼椛浼訜?，?shí)現(xiàn)箱體內(nèi)-100~200℃（選...
顯微鏡光學(xué)冷熱臺(tái) 參考價(jià)：70000
光學(xué)冷熱臺(tái),顯微鏡冷熱臺(tái),顯微鏡光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。采用液氮制冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)...
高低溫試驗(yàn)箱BCH180 參考價(jià)：80000
果果儀器（GoGo Instruments）液氮溫箱,高低溫試驗(yàn)箱BCH180是一款針對(duì)樣品變溫測(cè)試的環(huán)境箱，同時(shí)滿足光學(xué)、電學(xué)等測(cè)試。高低溫試驗(yàn)箱 BCH18...
探針熱臺(tái) EH600S 參考價(jià)：35000
半導(dǎo)體冷熱臺(tái),探針熱臺(tái) EH600S是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600...
電學(xué)測(cè)試 參考價(jià)：面議
探針冷熱臺(tái)又稱電學(xué)冷熱臺(tái)，專為電化學(xué)電池測(cè)試而設(shè)計(jì)，是一款研究樣品變溫電學(xué)性能得的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)...
果果儀器 mini熱臺(tái) 參考價(jià)：10000
果果儀器XRD冷熱臺(tái),mini熱臺(tái)是一款針對(duì)樣品變溫測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可進(jìn)行光學(xué)、電學(xué)測(cè)試。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~200℃范圍內(nèi)控溫，與其他光學(xué)、電...
電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：65000
果果儀器電化學(xué)電池,電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是一款直接法測(cè)試材料電卡效應(yīng)的設(shè)備。介電材料中，因外電場(chǎng)的作用而導(dǎo)致偶極子極化狀態(tài)發(fā)生改變，進(jìn)而產(chǎn)生自身溫度的變化。由于電卡...
智能全自動(dòng)液氮泵 參考價(jià)：15000
果果儀器科技的液氮溫箱,智能全自動(dòng)液氮泵是一款全自動(dòng)液氮泵，整個(gè)工作過(guò)程無(wú)需人為干預(yù)，可根據(jù)設(shè)置參數(shù)或通過(guò)傳感器檢測(cè)自動(dòng)為目標(biāo)容器進(jìn)行補(bǔ)液，當(dāng)補(bǔ)液工作完成后自動(dòng)...
掃描電鏡冷熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
顯微鏡冷熱臺(tái),掃描電鏡冷熱臺(tái)是一種安裝在掃描電鏡（SEM）上研究樣品原位變溫顯微結(jié)構(gòu)的附件 （ 無(wú)需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)）。通過(guò)定制外接法蘭裝置 ， 操作溫控軟件實(shí)...
果果儀器 電暈極化裝置 參考價(jià)：15000
果果儀器電化學(xué)電池,電暈極化裝置 ，電暈極化是因?yàn)椴黄交膶?dǎo)體產(chǎn)生極不均勻電場(chǎng)，在不均勻的電場(chǎng)周圍曲率半徑小的電極附近當(dāng)電壓升高到一定值時(shí)，由于空氣游離就會(huì)發(fā)生...
電控位移探針冷熱臺(tái)（納米級(jí)） 參考價(jià)：150000
果果儀器_電控位移探針冷熱臺(tái)（納米級(jí)）是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征，采用高精度電控探針，達(dá)到納米級(jí)控制。產(chǎn)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3