賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160ER Series 簡介：

1.X-RAY INSPECTION SYSTEM：

搭載Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應(yīng)用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外，通過特別的減震機(jī)構(gòu)，可穩(wěn)定且快速的分析不良產(chǎn)品?？煞€(wěn)定的實(shí)現(xiàn)2.5D Tilt檢測，也可以根據(jù)用戶及各種Application選擇不同Option。

2.X-ray Simple & Easy 2.5D：

1）Max可實(shí)現(xiàn)900 x 900mm的Table size，可檢測大型PCB和LED。

2）通過采用雙臂支撐的Z軸結(jié)構(gòu)方式，可輕松解決震動(dòng)引起的圖像殘影問題。

4）通過Detector R軸結(jié)構(gòu)的改善增加了檢測區(qū)域及機(jī)構(gòu)的穩(wěn)定性。

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