用途：

INSPECT系列測量金相顯微鏡適用于半導(dǎo)體封裝、焊接貼片、環(huán)路高度、FPD面板（LCM）、晶片級CSP等領(lǐng)域。

儀器特點：

■ 高精度大理石底座和立柱、有效保證高的穩(wěn)定性及剛性

■ 大理石工作臺設(shè)計、配合精密V型交叉導(dǎo)軌、長久使用不會變形，有效保證高的機(jī)械精度

■ 高品質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)和高分辨率CCD，確保擁有高品質(zhì)的測量畫面

■ 三環(huán)八區(qū)LED環(huán)形表面冷光源及輪廓光源、避免燈光發(fā)熱而影響精密工件的變形

■ 可選配日本尼康原裝傾斜三目鏡筒+五段變倍鼻輪

■ 自主研發(fā)影像測量儀軟件、功能強(qiáng)大、操作簡單 

INSPECT系列測量金相顯微鏡技術(shù)參數(shù)：