透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM）是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。 作為實驗室常用科學儀器設(shè)備，可以清晰地觀察到生物樣品的納米級微觀內(nèi)部結(jié)構(gòu)，目前已廣泛應(yīng)用于各類生物學科的分析研究。

影響透射電子顯微鏡的三個因素分別是：

1、分辨率

大孔徑角的磁透鏡，100KV時，分辨率可達0.005nm。實際TEM只能達到0.1－0.2nm，這是由于透鏡的固有像差造成的。提高加速電壓可以提高分辨率。已有300KV以上的商品高壓（或超高壓）電鏡，高壓不僅提高了分辨率，而且允許樣品有較大的厚度，推遲了樣品受電子束損傷的時間，因而對高分子的研究很有用。但高加速電壓意味著大的物鏡，500KV時物鏡直徑45－50cm。對高分子材料的研究所適合的加速電壓，最好在250KV左右。
 

2、放大倍數(shù)

電鏡最大的放大倍數(shù)等于肉眼分辨率（約0.2mm）除以電鏡的分辨率0.2nm，因而在106數(shù)量級以上。
 

3、襯度   

a．樣品越厚，圖像越暗；

b．原于序數(shù)越大，圖像越暗；

c．密度越大，圖像越暗；

其中，密度的影響最重要，因為高分子的組成中原于序數(shù)差別不大，所以樣品排列緊密程度的差別是其反差的主要來源。