不管增加強(qiáng)度還是引起缺陷，晶粒的結(jié)構(gòu)對(duì)材料的性能都起著非常重要的作用。通常，想要了解合金內(nèi)部的晶粒結(jié)構(gòu)是一項(xiàng)復(fù)雜且耗時(shí)的過(guò)程。它還涉及合金成分的化學(xué)信息，并且需要了解每個(gè)成分如何與其他成分相互作用。

 

 

關(guān)鍵信息可能來(lái)自不同的檢測(cè)器，不同的分辨率，很難將低分辨率的化學(xué)信息與高分辨率的灰度數(shù)據(jù)結(jié)合起來(lái)。研究機(jī)構(gòu)需要一種更自動(dòng)化和可復(fù)制的方式，以不同的分辨率分析來(lái)自不同模式的數(shù)據(jù)集。在本文中，將SEM和EBSD結(jié)合在一起進(jìn)行分析。

 

一旦導(dǎo)入兩個(gè)數(shù)據(jù)集，通常需要準(zhǔn)備數(shù)據(jù)，使用圖像增強(qiáng)工具來(lái)“清理”它，試圖去除或弱化偽影，為分析做好前期準(zhǔn)備。不同的增強(qiáng)技術(shù)可以應(yīng)用于每個(gè)數(shù)據(jù)集(例如，EBSD可能會(huì)受到特定噪聲的影響，而灰度圖可能需要對(duì)比增強(qiáng))。在圖像增強(qiáng)后，需要使用配準(zhǔn)和超采樣工具將兩個(gè)數(shù)據(jù)集合并，以生成灰度圖像提供的更高分辨率的化學(xué)圖像。完成這一特定過(guò)程后，就可以對(duì)晶粒進(jìn)行分割并進(jìn)一步分析。圖像的分析和晶粒分類可以通過(guò)測(cè)量和定量分析來(lái)進(jìn)行。除了可以定義許多不同的參數(shù)，包括晶粒尺寸、形狀和分布，也可以判定將最終影響樣品的機(jī)械、熱或電學(xué)性能的顆粒界面和多個(gè)接觸點(diǎn)的信息。

 

?一種簡(jiǎn)單和可復(fù)制的方式對(duì)晶粒結(jié)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)一步分析。通過(guò)使用Avizo軟件，您可以借助先進(jìn)的分析方法來(lái)更好地表征合金，同時(shí)通過(guò)其自動(dòng)化功能也增加了分析樣品的數(shù)量。