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為什么說(shuō)環(huán)境掃描電鏡是一種“特殊”的掃描電鏡?

閱讀:516      發(fā)布時(shí)間:2023-11-9
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環(huán)境掃描電鏡(ESEM)是一種特殊的掃描電鏡,可以在自然狀態(tài)(非真空狀態(tài))下對(duì)樣品進(jìn)行成像。原理是利用電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生多種物理信號(hào),如二次電子、背散射電子等,從而獲取樣品的形貌、成分等信息。相比傳統(tǒng)的掃描電鏡,ESEM可以在較低的真空狀態(tài)下工作,甚至可以在水汽或其他氣體環(huán)境中工作,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)非導(dǎo)電、非導(dǎo)熱樣品的直接成像。

環(huán)境掃描電鏡的主要特點(diǎn):

1、動(dòng)態(tài)原位實(shí)驗(yàn)

對(duì)自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究:具有環(huán)境模式的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 (ESEM)。原位分析的溫度范圍為 -165°C 至 1400°C,搭配使用各種冷臺(tái)和熱臺(tái)。

2、減少樣品制備時(shí)間

低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對(duì)非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無(wú)電荷/無(wú)脫水成像和分析。

3、樣品觀察

在各種操作模式下均可實(shí)現(xiàn) SE 和 BSE 同時(shí)成像。

4、優(yōu)異的分析能力

優(yōu)異的分析能力來(lái)自可以最多同時(shí)使用 3 個(gè) EDS 檢測(cè)器的腔室,并具有對(duì)稱180°的 EDS 接口、WDS接口以及和EDS幾何共面的EBSD接口。對(duì)非導(dǎo)電樣品的出色分析:在低真空條件下,Quattro ESEM高溫掃描電鏡的減小電子束散射技術(shù)可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 EDS 和 EBSD。

5、靈活且精確

靈活且精確的優(yōu)中心樣品臺(tái),傾斜范圍達(dá) 105°,可從各個(gè)角度觀察樣品。

6、易于使用的軟件及創(chuàng)新性選項(xiàng)

直觀易用且?guī)в杏脩糁改虾统废δ艿能浖?。使用更少的鼠?biāo)點(diǎn)擊,更快速地完成工作。新的創(chuàng)新選項(xiàng),包括可伸縮 RGB 陰極發(fā)光 (CL) 檢測(cè)器、1100°C 高真空加熱載物臺(tái)和 AutoScript 4 軟件(基于 Python 的API腳本工具)。


環(huán)境掃描電鏡的應(yīng)用非常廣泛,主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。例如,可以用于研究生物材料的表面結(jié)構(gòu)和性能,觀察細(xì)胞和組織的生長(zhǎng)過(guò)程和形態(tài)變化,分析藥物和生物分子的相互作用等。此外,ESEM還可以用于環(huán)境科學(xué)領(lǐng)域,如對(duì)土壤和水樣的成分和結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,評(píng)估環(huán)境污染的程度和影響等。


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