冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡（Cryo-PFIB）是一種結合了冷凍技術、等離子體技術和聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）的先進成像和制備工具。主要用于生命科學領域，特別是細胞或組織內(nèi)部結構的觀察。它基于聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）的原理，結合冷凍技術，使得在保持樣品接近天然狀態(tài)的同時，進行高分辨率的三維結構成像。

Thermo Scientific Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡專為從玻璃化細胞中自動、高通量制備冷凍薄片而設計。其自動上樣系統(tǒng)在斷層掃描工作流程中冷凍聚焦離子束掃描電鏡樣品制備和冷凍透射電鏡 (cryo-TEM) 這2個步驟間建立了直接的聯(lián)系。
  

與光學顯微鏡術關聯(lián)以及在透射電鏡中重新定位

機載集成寬場熒光顯微鏡 (iFLM) 支持使用光束、離子束或電子束對同一樣品區(qū)域進行觀察。特別設計的 TomoGrids 確保從最初的銑削到高分辨率透射電鏡成像過程中，冷凍薄片能與斷層掃描傾斜軸始終正確對齊。

iFLM 關聯(lián)系統(tǒng)能夠在電子束和離子束的匯聚點處進行熒光成像。無需移動載物臺即可在 iFLM 靶向和離子銑削之間進行切換。CompuStage 的 180° 的傾轉(zhuǎn)功能實現(xiàn)對樣品的頂部和底部表面進行成像，有利于觀察較厚的樣品。

TomoGrids 是針對冷凍斷層掃描工作流程而特別設計的，其上下2面均是平面。這2個面可防止載樣到冷凍透射電鏡時出現(xiàn)對齊錯誤，并始終確保薄片軸相對于透射電鏡傾斜軸的正確朝向。利用 TomoGrids，整個可用薄片區(qū)域都可用于數(shù)據(jù)采集。

厚度一致的高質(zhì)量薄片 

Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡可在多日內(nèi)保持超潔凈的工作環(huán)境，確保制備一致的高質(zhì)量薄片。等離子體離子束源可在氙離子、氧離子和氬離子間進行切換，有利于制備表面質(zhì)量出色的極薄薄片。

Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡的緊湊型樣品室專為冷凍操作而設計。由于縮小了樣品室體積，操作環(huán)境異常干凈，最大限度減少水凝結的發(fā)生。通過編織套管冷卻樣品及專用凍存盒屏蔽樣品，進一步提升了設計帶來的清潔度，確保了可以進行多日批量樣品制備的工作環(huán)境。

自動化高通量樣品制備和冷凍斷層掃描連接性

自動上樣器可實現(xiàn)多達 12 個網(wǎng)格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自動上下樣，方便轉(zhuǎn)移到冷凍透射電鏡，同時最大限度降低樣品損壞和污染風險。通過新的基于網(wǎng)絡的用戶界面加載的載網(wǎng)將首先被成像和觀察。隨后，選擇薄片位置并定義銑削參數(shù)。銑削工作將自動運行。根據(jù)樣品情況，等離子體源可實現(xiàn)高銑削速率，以實現(xiàn)對大體積材料的快速去除。