sem掃描電子顯微鏡是一種利用細(xì)聚焦的電子束掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)從樣品中激發(fā)出的二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌和組成的高分辨率成像設(shè)備。
 

　　sem掃描電子顯微鏡的工作原理可以概括為以下幾個(gè)步驟：
 

　　1、電子槍發(fā)射電子：使用一個(gè)電子槍來(lái)產(chǎn)生一束高速電子。這些電子通過(guò)高壓加速，通常在幾千到幾十千伏之間，以獲得足夠的能量。
 

　　2、電子束成形與聚焦：產(chǎn)生的電子束通過(guò)一系列的電磁透鏡進(jìn)行聚焦和整形，最終形成一個(gè)直徑很小(納米至微米級(jí)別)的探針。
 

　　3、掃描線(xiàn)圈控制電子束掃描：電子束隨后進(jìn)入一套掃描線(xiàn)圈，這些線(xiàn)圈在電磁作用下快速偏轉(zhuǎn)電子束，使其在樣品表面上進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。掃描方式通常是光柵掃描或蛇形掃描。
 

　　4、樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)：當(dāng)高速電子束轟擊樣品表面時(shí)，會(huì)與樣品原子發(fā)生相互作用，導(dǎo)致電子-空穴對(duì)的產(chǎn)生、原子的電離、二次電子的釋放等一系列復(fù)雜的物理過(guò)程。
 

　　5、信號(hào)處理與圖像構(gòu)建：收集到的信號(hào)經(jīng)過(guò)放大和處理后，被送到顯像系統(tǒng)。在那里，這些信號(hào)被轉(zhuǎn)換成圖像，每個(gè)像素點(diǎn)的亮度對(duì)應(yīng)于某個(gè)特定位置的信號(hào)強(qiáng)度。通過(guò)同步掃描線(xiàn)圈的控制信號(hào)和顯示系統(tǒng)的掃描信號(hào)，可以保證顯示器上形成的圖像與電子束在樣品上的掃描位置一一對(duì)應(yīng)。
 

　　6、最終成像：通過(guò)逐點(diǎn)掃描和信號(hào)采集，能夠構(gòu)建出一幅高分辨率的二維圖像，顯示出樣品的表面形貌和成分分布。此外，還可以配備能量分散譜儀(eds)等附件，進(jìn)行元素的定性和定量分析。
 

　　sem掃描電子顯微鏡的分辨能力非常強(qiáng)，一般可以達(dá)到納米級(jí)別，這使得它成為材料科學(xué)、冶金學(xué)、生物學(xué)以及半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域中研究微觀世界的重要工具。