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目錄:賽默飛電子顯微鏡>>掃描電鏡(SEM)>> Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡

Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡
  • Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2024-08-28 13:23:53瀏覽次數(shù):1016評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡環(huán)境掃描電鏡(ESEM),用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品。

Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡

環(huán)境掃描電鏡(ESEM),用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品

Quattro ESEM 環(huán)境掃描電鏡的主要特點(diǎn)

動(dòng)態(tài)原位實(shí)驗(yàn)

對(duì)自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究:具有環(huán)境模式的高分辨場發(fā)射掃描電鏡 (ESEM)。原位分析的溫度范圍為 -165°C 至 1400°C,搭配使用各種冷臺(tái)和熱臺(tái)。

最大限度地減少樣品制備時(shí)間

低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對(duì)非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無電荷/無脫水成像和分析。

Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡樣品觀察

在各種操作模式下均可實(shí)現(xiàn) SE 和 BSE 同時(shí)成像。

優(yōu)異的分析能力

優(yōu)異的分析能力來自可以最多同時(shí)使用 3 個(gè) EDS 檢測(cè)器的腔室,并具有對(duì)稱180°的 EDS 接口、WDS接口以及和EDS幾何共面的EBSD接口。對(duì)非導(dǎo)電樣品的出色分析:在低真空條件下,Quattro ESEM高溫掃描電鏡的減小電子束散射技術(shù)可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 EDS 和 EBSD。

靈活且精確

靈活且精確的優(yōu)中心樣品臺(tái),傾斜范圍達(dá) 105°,可從各個(gè)角度觀察樣品。


易于使用的軟件及創(chuàng)新性選項(xiàng)

直觀易用且?guī)в杏脩糁改虾统废δ艿能浖J褂酶俚氖髽?biāo)點(diǎn)擊,更快速地完成工作。新的創(chuàng)新選項(xiàng),包括可伸縮 RGB 陰極發(fā)光 (CL) 檢測(cè)器、1100°C 高真空加熱載物臺(tái)和 AutoScript 4 軟件(基于 Python 的API腳本工具)。

Quattro ESEM 環(huán)境掃描電鏡的規(guī)格

分辨率
  • 高真空模式

    • 0.8nm@30kV(STEM)

    • 1.0nm@30kV(SE)

    • 3.0nm@1kV(SE)

    • 低真空和環(huán)掃模式

    • 1.3nm@30kV(SE)

標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器
  • ETD、低真空 SED (LVD)、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD

可選檢測(cè)器
  • Nav-Cam+、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、ICD、STEM 3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等

ChemiSEM 技術(shù)(可選)
  • 可基于能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)定量 元素面分布。包含點(diǎn)分析、線掃描、面分布及元素定量。

樣品臺(tái)減速(可選)
  • -4000 V 至 +50 V

低真空模式
  • 高達(dá) 2600 Pa (H2O) 或 4000 Pa (N2)

樣品臺(tái)
  • 5軸馬達(dá)優(yōu)中心樣品臺(tái),110 x 110 mm2,105° 傾斜范圍。最大樣品重量:未傾斜位置,5 kg。

標(biāo)準(zhǔn)樣品支架
  • 標(biāo)準(zhǔn)多樣品 SEM 支架可單獨(dú)直接安裝在載物臺(tái)上,可容納多達(dá) 18 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品托 (? 12 mm),無需工具即可安裝樣品

樣品倉
  • 340 mm 內(nèi)寬,12 個(gè)接口,最多可接三個(gè) EDS 檢測(cè)器(兩個(gè)呈 180°對(duì)稱),并具有與共面 EDS共面的EBSD接口。

原位配件(可選)
  • 軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺(tái)

  • 軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺(tái)

  • 軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺(tái)

  • 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺(tái)

  • 集成氣體注入系統(tǒng):用于下列材料的電子束誘導(dǎo)沉積,最多支持2種氣體(其他配件可能限制可用的注氣系統(tǒng) (GIS) 數(shù)量):

  • 納米機(jī)械手

  • 液氮致冷臺(tái)

  • 電子探針/多探針臺(tái)

軟件選項(xiàng)
  • Thermo Scientific Maps 軟件可進(jìn)行大面積圖像自動(dòng)采集和拼接,并可與其它設(shè)備聯(lián)用

  • Thermo Scientific AutoScript 4 軟件;基于 Python 的應(yīng)用程序編程界面

  • 圖形發(fā)生軟件

  • TopoMaps 軟件用于圖像著色及分析和 3D 表面重建




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