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中級(jí)會(huì)員 | 第3年

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otsukael 多分析物納米顆粒尺寸測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA

時(shí)間:2024/7/26閱讀:219
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多分析物納米顆粒尺寸測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA


nanoSAQLA是采用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測(cè)量裝置(粒徑0.6nm至10μm)。

配備進(jìn)一步追求質(zhì)量控制需求的各種功能。

一種新的光學(xué)系統(tǒng),支持從稀釋系統(tǒng)到濃縮系統(tǒng)的寬濃度范圍內(nèi)的多分析物測(cè)量,實(shí)驗(yàn)室的輕量化和緊湊設(shè)計(jì),以及標(biāo)準(zhǔn)的 1 分鐘高速測(cè)量。


此外,這款新產(chǎn)品是非浸入式的,不受污染影響,標(biāo)配“5個(gè)樣品連續(xù)測(cè)量",無(wú)需自動(dòng)進(jìn)樣器。


特征:

用一臺(tái)

 設(shè)備輕松連續(xù)測(cè)量 5 個(gè)樣品 實(shí)現(xiàn)了多個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量,這在沒(méi)有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下是困難的

 也可以通過(guò)改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量。

與稀釋到濃縮系統(tǒng)兼容

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間:1分鐘高速測(cè)量

 針對(duì)濃樣品和稀樣品自動(dòng)調(diào)整最佳測(cè)量位置,實(shí)現(xiàn)約1分鐘高速測(cè)量

配備簡(jiǎn)易測(cè)量功能(一鍵開(kāi)始測(cè)量)

 軟件簡(jiǎn)單易懂,無(wú)需復(fù)雜操作

內(nèi)置非浸入式池塊,消除污染,無(wú)需分液。每個(gè)

 池都是獨(dú)立的,無(wú)需擔(dān)心污染。

配備溫度梯度功能

 ,方便溫度設(shè)定


測(cè)量范圍(理論值):

粒徑0.6nm~10μm

濃度范圍0.00001~40%

溫度范圍0~90℃*


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