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日本SENA檢查燈的型號及介紹

時間：2025/7/25閱讀：41
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日本SENA檢查燈的型號及詳細介紹：

型號及介紹

1. 185LE

  • 用途：主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查，廣泛應用于TFT面板、彩色濾光片（CF）、觸摸屏制造等行業(yè)。
  • 核心功能：
    • 高照度：在照射距離310mm、照射直徑55mm時，照度可達400,000 Lux以上。
    • 光源：直流點燈17V/185W鹵素燈。
    • 照度調(diào)整：照度可連續(xù)調(diào)節(jié)至最大照度的20%。
    • 冷卻方式：強制空冷。
    • 使用溫度范圍：0～40℃。
    • 電源電壓：AC 95V～AC 260V, 50/60Hz。
    • 功率：250W。
    • 尺寸：光源136mm H×112mm W×150mm D，電源229mm H×90mm W×250mm D。
    • 重量：光源2.3kg，電源3.6kg。

2. 185LE-AL

  • 用途：與185LE類似，主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查，適合TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏制造等行業(yè)。
  • 核心功能：
    • 高照度：在照射距離310mm、照射直徑55mm時，照度可達400,000 Lux以上。
    • 光源：直流點燈17V/185W鹵素燈。
    • 照度調(diào)整：照度可連續(xù)調(diào)節(jié)至最大照度的20%。
    • 冷卻方式：強制空冷。
    • 使用溫度范圍：0～40℃。
    • 電源電壓：AC 95V～AC 260V, 50/60Hz。
    • 功率：200W。
    • 尺寸：光源136mm H×112mm W×150mm D，電源229mm H×90mm W×250mm D。
    • 重量：光源1.2kg，電源3.6kg。

3. 185FI

  • 用途：適用于需要高照度和特定光譜特性檢測的場景，如高反射材料、透明材料的檢測。
  • 核心功能：
    • 高照度：提供高亮度照明，滿足精密檢測需求。
    • 光源：17V/185W鹵素燈。
    • 照度調(diào)整：支持無級調(diào)光。
    • 冷卻方式：強制空冷。
    • 使用溫度范圍：0～40℃。

4. 370TFI/R

  • 用途：適用于大面積檢測，如大型玻璃基板、TFT面板等。
  • 核心功能：
    • 高照度：提供高亮度照明。
    • 光源：鹵素燈。
    • 照度調(diào)整：支持無級調(diào)光。
    • 冷卻方式：強制空冷。
    • 使用溫度范圍：0～40℃。

5. 100LE

  • 用途：適用于小型檢測場景，如小尺寸晶圓、小型光學元件等。
  • 核心功能：
    • 光源：鹵素燈。
    • 照度調(diào)整：支持無級調(diào)光。
    • 冷卻方式：強制空冷。
    • 使用溫度范圍：0～40℃。

應用場景

  • 半導體晶圓檢測：用于檢測晶圓表面的微小缺陷，如劃痕、微粒、涂層不均等。
  • 液晶面板檢測：用于檢測TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏等的表面雜質(zhì)與微裂紋。
  • 玻璃基板檢測：用于檢測玻璃基板表面的雜質(zhì)、微裂紋等。
  • 材料分析：用于檢測金屬涂層均勻性、塑料部件注塑缺陷等。
這些型號的檢查燈均具備高照度、可調(diào)節(jié)照度、強制空冷等特性，能夠滿足不同工業(yè)檢測場景的需求。


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