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激光干涉儀用于重復定位精度測量

閱讀:1950        發(fā)布時間:2023-3-29

1、重復定位精度測量原理
     重復定位精度測量主要用到干涉儀的線性測量,即對待測平移裝置的定位進行多次測量,比較得到同一位移指令下的定位精度。
     線性度測量是激光干涉儀的基本測量,原理如圖所示。將一個角錐反射鏡安裝到分光鏡上,組成線性干涉鏡,它形成干涉儀的參考光路。另一個角錐反射鏡安裝到待測目標上,它與干涉鏡之間形成干涉儀的測量光路。隨著平移裝置多次位移,每移動設定位移量之后,由干涉儀記錄測量光路改變量,即平移裝置的位移量。
 

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2、測量數(shù)據(jù)處理
     重復定位精度包括平移裝置的單點定位精度和整個位移范圍內(nèi)的不同位置點上的定位精度兩種。前者可以通過調(diào)整裝置使多次移動到同一標稱位置,并暫停幾秒,記錄位移量;測量其位移偏差量;后者擇在整個位移范圍不同位置點上測量實際位移與標稱值的偏差,使待測位移裝置移動到目標位置點,并暫定進行測量。將多次定位測量數(shù)據(jù)進行分析處理,得到裝置的重復定位精度。
3、重復定位精度測量用組件
     重復定位精度測量用到的激光干涉儀組件:
     激光干涉儀測頭、線性測量光學鏡組、光路折轉(zhuǎn)量光學鏡組、環(huán)境補償單元、Leice Measure測量軟件、Leice Analysis 分析軟件
4、重復定位精度測量應用
數(shù)控機床/坐標測量機導軌的重復定位精度測量
機床X、Y軸平移臺的重復定位精度測量
高精度機械元件的校準
線性電機或壓電陶瓷平移臺的重復定位精度測量


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