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MCP-T710現(xiàn)貨NITTOSEIKO日東精工低電阻率計
MCP-T710現(xiàn)貨NITTOSEIKO日東精工低電阻率計

地:日本

貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2024/8/13 9:20:29

訪問次數(shù):30

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供應(yīng)簡介
玉崎現(xiàn)貨 NITTOSEIKO日東精工 低電阻率計
Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標準之一。


詳細介紹

玉崎現(xiàn)貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計

玉崎現(xiàn)貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計


Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標準之一。

 隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴格、高精度地管理材料。其中,電阻率(表面、體積、電導(dǎo)率)是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準確地測量電阻率的設(shè)備。

  該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法,可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

  與傳統(tǒng)的4端子法不同,無需為測量對象準備電極,使用本公司提供的各種4點探頭即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標

■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。


可以隨時隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率(比電阻)和電導(dǎo)率。

  • Loresta GP(10 -3至 10 7 )相比,測量范圍從 10 -4擴大至 10 7 Ω

  • 通過改變電流方向即可測量硅片

  • 恒定電流可變功能(可使用微小電流進行樣品測量)

  • 可輸出2000個測量結(jié)果至USB存儲器

  • 通過觸摸屏提高操作性


探頭 *GX 探頭不能連接到 GXⅡ。

名稱/產(chǎn)品簡稱GX 用 ASP 探頭 RMH110
,GX Ⅱ用 GP ASR 探頭 RMH501


規(guī)格
符合 JIS K 7194
引腳間距:5 毫米
引腳尖:0.37R x 4 件
彈簧壓力:220 克/件
應(yīng)用特性包括
導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電涂料、薄膜等。 標準探頭兼容 JIS K7194。

名稱/產(chǎn)品縮寫

ESP 探頭 RMH114 for GX,GP
ESR 探頭
RMH502 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間:5mm
引腳尖:φ2mm x 4
彈簧壓力:230g/件    
應(yīng)用
異質(zhì)樣品,如混合有碳粉、金屬粉末等的導(dǎo)電塑料(特別是注塑產(chǎn)品)
特點
引腳尖直徑為 2 mm 由于表面形狀,施加的電流容易流動。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用LSP探頭 RMH116 ,GXⅡ用GP
LSR探頭
RMH503

規(guī)格
引腳間距:5mm
引腳尖:球 D2mm x 4 件彈簧壓力: 140g
/件  
應(yīng)用
導(dǎo)電橡膠和薄膜等 軟樣品 很難卡在橡膠中。

名稱/產(chǎn)品代碼

PSP 探頭 RMH112 for GX,GP
PSR 探頭
RMH504 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間距:1.5mm引腳尖
:0.26R x 4
彈簧壓力:95g/個
應(yīng)用
薄膜、小樣品、狹窄空間
特點
薄膜用標準探針,引腳很細,引腳之間的距離為 1.5 mm 。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用QP2探頭 RMH119 ,GXⅡ用GP
QR探頭
RMH505

規(guī)格
針腳間:1.5mm
針尖:0.26R x 4
彈簧壓力:95g/個
應(yīng)用 方形,特別適用于
小樣品和狹窄空間。電阻值約為4針串聯(lián)引腳的一半,手持式無法支持校正系數(shù),因此不建議使用。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用BSP探頭 RMH111 ,GXⅡ用GP
BSR探頭
RMH506


規(guī)格
: 引腳間距:2.5mm
引腳尖:0.37R x 4
彈簧壓力:170g/引腳

應(yīng)用:
兩個遠點之間的測量、前后表面之間的測量(層間電阻)、
4 個
引腳分為 2 個,像測試儀一樣測量右手拿著一張,左手拿著一張。至于主機,GXII 更方便,因為可以使用腳踏開關(guān)。

注)無法測量電阻率。


名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用NSCP探頭 RMJ202 ,GXⅡ用GP
NSCR探頭
RMH507

規(guī)格
: 引腳間距:1.0mm
引腳尖:0.04R x 4 件
彈簧壓力:250g/件僅
適用于硅片,適用于
表面堅硬光滑的樣品,如陶瓷 引腳材料為碳化鎢,尖鋒利,堅固彈簧壓力。

名稱/產(chǎn)品縮寫
TFP 探頭
RMJ217 for GX(已售完)

規(guī)格
引腳間:1.0mm
引腳尖:0.15R x 4
彈簧壓力:50g/個
應(yīng)用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜

名稱/產(chǎn)品代碼
AP2 探頭
RMH333 for GX,GP
AR 探頭
RMH508 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間:10mm
引腳尖φ2 x 2
彈簧壓力:230g/引腳
應(yīng)用
用于 表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層
使用
2 端子法進行測量,包括接觸電阻,導(dǎo)致電阻值較高。由于電阻值不正確,我們不會將其轉(zhuǎn)換為電阻率。主要用于定性評價。
注)無法測量電阻率。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX 用 BP 探頭 RMH118 ,GX Ⅱ用 GP
BR 探頭
RMH509

規(guī)格
針尖:φ2 x 2
彈簧壓力:200g/針
用途
2 點探頭
用于表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層上兩個遠點之間的測量 用于使用 2 端子
注)無法測量電阻率。




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