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影響渦流涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因
閱讀：3216發(fā)布時(shí)間：2010-3-23
影響渦流涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因 分析如下：
（1）覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
（2）基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
（3）任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
（4）渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的.
（5）試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
（6）基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大;
（7）渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭 和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸.
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