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創(chuàng)新的蔡司 Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡，將高通量實驗室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學(xué)器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng) microCT 技術(shù)之間的空白。

    蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡總體描述

    創(chuàng)新的Xradia800Ultra，將高通量實驗室X射線源與專業(yè)的X射線光學(xué)器件整合至一套獨立的超高分辨率CT掃描X射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM或AFM等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng)microCT技術(shù)之間的空白。

    蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡技術(shù)參數(shù)：

蔡司 Xradia 800 Ultra

    無損三維X射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進行重復(fù)成像

    在原位設(shè)備中樣品成像保持低至50nm的高分辨率

    用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能

    視野可在15至60μm的范圍內(nèi)進行切換

    吸收襯度和Zernike相位襯度成像模式

    在實驗室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測試你計劃的同步實驗，讓有限的同步輻射時間更加有效率

    搭配Scout-and-Scan控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室

    特點：

    Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微觀結(jié)構(gòu)和進程可視化，這些是傳統(tǒng)實驗室X射線技術(shù)不能實現(xiàn)的。在X射線能量為8KeV下運行，穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。

    集成相位襯度技術(shù)的Xradia800Ultra運用Zernike方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。

    蔡司Xradia800Ultra采用類似橫切法的無損技術(shù)，提供可信賴的內(nèi)部3D信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進行原位研究。

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