北崎國際貿(mào)易（北京）有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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日本KETT凱特萬能水分測試儀 HB-3002025/3/24
特征測量范圍寬，可測量多個(gè)物體簡單的校準(zhǔn)曲線創(chuàng)建可在幾秒鐘內(nèi)輕松完成測量豐富的可選傳感器規(guī)格測量方法電阻測量范圍1~99%（取決于校準(zhǔn)和樣品）準(zhǔn)確性取決于校準(zhǔn)環(huán)境溫度0~40°C電源電池6個(gè)“AA”大...
日本TOPCON?觀察Ne、Ar的光譜線輸出SR-NIR分光輻射計(jì)2025/3/22
近紅外分光輻射計(jì)SR-NIR高精度測定超微弱近紅外光產(chǎn)品概要近年來，在顯示器及照明市場上，對(duì)“近紅外領(lǐng)域”的測定需求日漸增多。之前，行業(yè)內(nèi)并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關(guān)儀器。TOPCON...
日本TOPCON?超低亮度分光輻射計(jì) SR-UL22025/3/22
超低亮度分光輻射計(jì)SR-UL2超低亮度分光輻射度計(jì)第2款機(jī)型！產(chǎn)品概要本產(chǎn)品是在獲得好評(píng)的超低亮度分光輻射度計(jì)SR-UL1R的基礎(chǔ)之上，實(shí)現(xiàn)了更高靈敏度、更高速化的機(jī)型，是業(yè)界靈敏度最高，量程范圍從0...
TOPCON日本分光輻射計(jì)SR-5S2025/3/22
[新產(chǎn)品]分光輻射計(jì)SR-5S新一代SR系列標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型高速測量高色度精度產(chǎn)品概要本產(chǎn)品為光學(xué)結(jié)構(gòu)更新，靈敏度提升及內(nèi)部系統(tǒng)改良，大幅縮短測量時(shí)間的，新一代分光輻射度計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型。此外、采用大熒幕彩色觸控...
日本TOPCON?分光輻射計(jì)SR-5A2025/3/22
分光輻射計(jì)SR-5A具HDR，高速，操作性新時(shí)代SRseries產(chǎn)品概要本產(chǎn)品對(duì)應(yīng)超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時(shí)代分光輻射計(jì)。測量角1°量程擴(kuò)大，對(duì)應(yīng)0.0005cd/m2的超低亮度及高...
日本TOPCON?分光輻射計(jì)SR-5AS2025/3/22
分光輻射計(jì)SR-5AS具HDR，高速，操作性新時(shí)代SRseries對(duì)應(yīng)量程從0.0001cd/m2起的*高級(jí)機(jī)型產(chǎn)品概要本產(chǎn)品對(duì)應(yīng)超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時(shí)代分光輻射計(jì)。在測定角2°...
日本KETT凱特NIR 水分分析儀 KB-2302025/3/17
特征臺(tái)式快速水份測定儀使用近紅外光的反射光在應(yīng)用光照后幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果樣品容器高度靈活，可在塑料袋上進(jìn)行測量通過作主機(jī)上的按鍵創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線規(guī)格測量方法近紅外反射，在底平面投射/接收的光光譜學(xué)濾波器測量...
KETT凱特紅外快速水份測定儀FD-6602025/3/17
特征強(qiáng)調(diào)Basic性能的Basic模型最小水分含量顯示0.01%，重量顯示5mg使用自動(dòng)去皮減少漂移兩種類型的測量模式：自動(dòng)和定時(shí)規(guī)格測量方法通過加熱和干燥檢測重量損失樣品質(zhì)量1-80g（可選重量采樣...
日本三豐MITUTOYO防冷劑千分尺 MDC-PX2025/3/17
防冷劑千分尺M(jìn)DC-PXIP65防護(hù)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格（不含稅）：21,300日元測量范圍（mm）：0~25*小顯示量（mm）：0.001*有關(guān)產(chǎn)品的*庫存狀況和交貨日期，請(qǐng)與貿(mào)易公司或我們的銷售辦事處聯(lián)系...
293-257-30日本三豐MITUTOYO防冷卻液千分尺2025/3/17
防冷卻液千分尺M(jìn)DC-125~300MXIP65防護(hù)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格（不含稅）：42,000日元測量范圍（mm）：100~125最小顯示量（mm）：0.001*有關(guān)產(chǎn)品的最新庫存狀況和交貨日期，請(qǐng)與貿(mào)易公...
RIGAKU理學(xué)全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 310Fab2025/3/17
TXRF310Fab系列全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉(zhuǎn)子式高功率X射線發(fā)生器和新設(shè)計(jì)的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米...
RIGAKU理學(xué)全內(nèi)反射X 射線熒光光譜儀TXRF 37602025/3/15
TXRF3760系列全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀對(duì)晶圓表面的污染進(jìn)行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉(zhuǎn)子式高功率X射線發(fā)生器和新設(shè)計(jì)的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達(dá)...
RIGAKU日本理學(xué)用于薄膜評(píng)估的 X 射線熒光光譜儀WaferX 3102025/3/15
WaferX310系列用于薄膜評(píng)估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時(shí)分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光...
RIGAKU日本理學(xué)晶圓磁盤分析儀 36502025/3/15
晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光光譜儀對(duì)各種薄膜的厚度和成分進(jìn)行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時(shí)分析最大~200...
RIGAKU日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀2025/3/15
AZX400用于薄膜評(píng)估的X射線熒光光譜儀將Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一個(gè)單元中，這些元素是重要的半導(dǎo)體材料波長色散X射線熒光（WDX）光譜儀的**模型WDX具有高信噪比和高分辨...
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