鹽霧試驗箱 老化機 返回列表頁

鹽霧試驗箱 老化機

用途：

1、電子電器零組件：測試電子元件在溫度急劇變化下的性能，以評估其可靠性和耐用性。
2、自動化零部件：確保自動化系統(tǒng)中使用的部件能夠在溫度下正常工作。

3、通訊組件：對通訊設(shè)備進行溫度沖擊測試，以保證其在不同溫度環(huán)境下的通信質(zhì)量。
4、汽車配件：測試汽車零部件在極寒或極熱環(huán)境下的性能，以確保車輛在氣候下的安全和性能。
5、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)：評估這些材料在溫度沖擊下的物理和化學(xué)性質(zhì)變化。
6、國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)：對軍事和航天設(shè)備進行嚴格的溫度沖擊測試，以確保其在戰(zhàn)場或太空環(huán)境中的穩(wěn)定性。
7、半導(dǎo)體和高分子材料：測試這些材料在溫度沖擊下的物理變化，以評估其適應(yīng)性和可靠性。
8、科技研發(fā)：在產(chǎn)品研發(fā)階段，幫助工程師發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計缺陷和性能瓶頸，確保產(chǎn)品在條件下的穩(wěn)定性。

鹽霧試驗箱 老化機

滿足標(biāo)準及試驗方法

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗