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TSD-150F-3P
廣皓天
生產(chǎn)商
東莞市
更新時(shí)間:2024-10-17 17:57:25瀏覽次數(shù):77次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱航天設(shè)備可靠性驗(yàn)證
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 | 高溫區(qū) | +60℃~200℃ |
低溫區(qū) | -10℃~-60℃ | 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
溫度均勻度 | ±3℃ | 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 3~5 分鐘 |
高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min | 低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min |
高低溫暴露時(shí)間 | 30min 以上 | 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒 |
樣品容積 | 36L | 工作室尺寸 | 600×500×500mm(寬 × 高 × 深) |
外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm | 電源 | 380V/50Hz |
重量 | 約 560kg |
三箱冷熱沖擊箱
產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備,測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。
二、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
三箱式布局
由高溫箱、低溫箱和測(cè)試箱組成。高溫箱采用耐高溫的加熱元件,能夠快速達(dá)到并穩(wěn)定維持設(shè)定的高溫環(huán)境;低溫箱配備高效制冷系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)極低溫度。測(cè)試箱用于放置航天設(shè)備樣品,通過(guò)快速的風(fēng)道切換系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)樣品在極短時(shí)間內(nèi)于高溫和低溫環(huán)境之間切換。
箱體材質(zhì)
外殼采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板,表面經(jīng)防銹處理后再進(jìn)行靜電噴塑,美觀且耐用。內(nèi)箱則選用不銹鋼材質(zhì),具有良好的耐腐蝕性和熱傳導(dǎo)性,確保試驗(yàn)環(huán)境的穩(wěn)定性。
三、技術(shù)參數(shù)
溫度范圍
高溫區(qū)可達(dá) +150℃ - +200℃,低溫區(qū)可低至 -70℃ - - 80℃,能夠滿足絕大多數(shù)航天應(yīng)用場(chǎng)景的溫度模擬需求。
溫度沖擊速率
從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間可控制在數(shù)分鐘內(nèi),能逼真地模擬航天設(shè)備在軌道運(yùn)行時(shí)的快速溫度變化。
溫度均勻性
在測(cè)試箱內(nèi),溫度均勻度可達(dá) ±2℃,保證航天設(shè)備各部位都能受到均勻的溫度沖擊。
四、控制系統(tǒng)
智能控制
采用先進(jìn)的微電腦可編程控制系統(tǒng),可預(yù)先設(shè)置多種溫度沖擊循環(huán)模式,操作界面直觀簡(jiǎn)潔,便于技術(shù)人員操作。
數(shù)據(jù)記錄與監(jiān)控
具備高精度的溫度傳感器,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控并記錄試驗(yàn)過(guò)程中的溫度數(shù)據(jù)。同時(shí),支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出功能,方便用戶進(jìn)行后續(xù)的分析和存檔。
三箱冷熱沖擊箱
滿足標(biāo)準(zhǔn)
?GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)
?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)
?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
?GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
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