三箱冷熱沖擊箱 返回列表頁(yè)

三箱冷熱沖擊箱

產(chǎn)品用途： 

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備，測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。

二、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

三箱式布局

由高溫箱、低溫箱和測(cè)試箱組成。高溫箱采用耐高溫的加熱元件，能夠快速達(dá)到并穩(wěn)定維持設(shè)定的高溫環(huán)境；低溫箱配備高效制冷系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)極低溫度。測(cè)試箱用于放置航天設(shè)備樣品，通過(guò)快速的風(fēng)道切換系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)樣品在極短時(shí)間內(nèi)于高溫和低溫環(huán)境之間切換。

箱體材質(zhì)

外殼采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，表面經(jīng)防銹處理后再進(jìn)行靜電噴塑，美觀且耐用。內(nèi)箱則選用不銹鋼材質(zhì)，具有良好的耐腐蝕性和熱傳導(dǎo)性，確保試驗(yàn)環(huán)境的穩(wěn)定性。

三、技術(shù)參數(shù)

溫度范圍

高溫區(qū)可達(dá) +150℃ - +200℃，低溫區(qū)可低至 -70℃ - - 80℃，能夠滿足絕大多數(shù)航天應(yīng)用場(chǎng)景的溫度模擬需求。

溫度沖擊速率

從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間可控制在數(shù)分鐘內(nèi)，能逼真地模擬航天設(shè)備在軌道運(yùn)行時(shí)的快速溫度變化。

溫度均勻性

在測(cè)試箱內(nèi)，溫度均勻度可達(dá) ±2℃，保證航天設(shè)備各部位都能受到均勻的溫度沖擊。

四、控制系統(tǒng)

智能控制

采用先進(jìn)的微電腦可編程控制系統(tǒng)，可預(yù)先設(shè)置多種溫度沖擊循環(huán)模式，操作界面直觀簡(jiǎn)潔，便于技術(shù)人員操作。

數(shù)據(jù)記錄與監(jiān)控

具備高精度的溫度傳感器，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控并記錄試驗(yàn)過(guò)程中的溫度數(shù)據(jù)。同時(shí)，支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出功能，方便用戶進(jìn)行后續(xù)的分析和存檔。

三箱冷熱沖擊箱

滿足標(biāo)準(zhǔn)

?GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

?GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)