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[供應(yīng)]薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)TF200
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  • 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)TF200
更新時(shí)間:
2024-12-29 21:00:07
有效期:
2024年12月29日 -- 2025年6月29日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析

詳細(xì)介紹

 

 

 

 

 

 

img3

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TF200 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200  膜厚度測(cè)量系統(tǒng)根據(jù)反射回來(lái)的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍 1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于 100nm 以上的薄膜,還可以測(cè)量n  k 值。

 

 

產(chǎn)品名稱

TF200 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

主要特點(diǎn)

快速、準(zhǔn)確、無(wú)損、靈活、易用、性價(jià)比高

 

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、 MEMS ,SOI 等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、 聚亞酰胺 ITO )

LED (SiO2 、光刻膠 ITO 等)

觸摸屏(ITO AR Coating 反射/穿透率測(cè)試等)

汽車(防霧層、 Hard Coating DLC 等)

 

醫(yī)學(xué)(聚對(duì)二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等)

波長(zhǎng)范圍

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范圍

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

準(zhǔn)確度(取決于材 0.4% 2nm 之間 取較大者)

 

2nm

 

2nm

 

1nm

 

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

樣品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

測(cè)量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸(可選微 光斑附件。)

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在線

掃描選擇

XY 可選

XY 可選

XY 可選

XY 可選

 

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