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瑞士丹青科技邀您參加SEMI-e 深圳國際半導體展

時間:2024-6-24閱讀:468
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瑞士丹青科技邀您參加SEMI-e

深圳國際半導體展

展位號:4號館  4K35

瑞士丹青科技邀您參加SEMI-e 深圳國際半導體展

丹青公司于1986年成立,在中國已經(jīng)有38年的歷史,是國際長度計量檢測設備提供商,是眾多歐美頂尖品牌的亞太戰(zhàn)略合作伙伴。

丹青公司總部位于北京,沈陽、蘇州、程度、深圳等,在全中國有17個辦事處,能夠在全國范圍內(nèi)提供優(yōu)質(zhì)的售前售后服務。

丹青公司提供優(yōu)秀的產(chǎn)品檢測解決方案,一站式為您解決所有長度尺寸類產(chǎn)品檢測問題。

丹青公司在機械、電子、汽車、航空、航天、兵工等,擁有從工廠、研究所、計量站到國家計量院等廣泛的用戶,值得您信賴。


Optosurf

晶圓測量機WaferMaster

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WaferMaster 300晶圓測量系統(tǒng)使用散射光傳感器,在不到30S的時間內(nèi)測量整個 300 mm晶片表面的粗糙度。該系統(tǒng)使用 OS 500 散射光技術,該技術已在用于超導和醫(yī)療應用的高質(zhì)量拋光金屬表面的表面測量中得到充分證明。由于傳感器的特殊設計,WaferMaster 還可以測量翹曲、波紋度和缺陷。

這種技術的優(yōu)勢在于速度(整個 300 mm晶元掃描為 25 s)和對環(huán)境機械噪聲的不敏感性。粗糙度、翹曲和波紋度的全區(qū)域表示功能為表征和改進磨削工藝以及從邊緣區(qū)域到中心檢查質(zhì)量開辟了新的可能性。


Werth VideoCheck

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晶圓(wafer)是制造半導體器件的基礎性原材料。高純度的半導體經(jīng)過拉晶、切片等工序制成晶圓,晶圓進過一系列半導體制造工藝形成極微小的電路結(jié)構(gòu),再切割、封裝、測試成為芯片,廣泛應用到各類電子設備中。其中,晶圓襯底材質(zhì)不同,應用領域各不相同。為了光刻的需要,為了實現(xiàn)集成電路制成的性能,則需晶圓的表面平整,厚度均勻。

Werth的CFP測量晶圓時,由于材料透明,被測晶圓上下表面都會反射特定波長的光,并在光譜儀上出現(xiàn)兩個峰值的光譜曲線,通過這兩個峰值可以推算出晶圓的厚度。操作簡單,晶圓放置在 X-Y 工作臺上的固定夾具上,啟動WinWerth 晶圓測量軟件,輸入晶圓尺寸、材料、大約厚度的基本信息,一鍵式完成測量。

Werth TOMOSCOPE XS

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瑞士丹青 Werth TomoScope XS 系列 X 射線三坐標測量機,采用一體化設計的高  功率透射式射線源,針對塑料、軟膠、小金屬件、小模數(shù)齒輪、易變形件等實現(xiàn) 一鍵式大范圍高分辨率快速掃描測量,2 分鐘即可完成一次掃描。將 X 射線掃描 成像技術整合到三坐標測量系統(tǒng)來實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化全尺寸測量機。對工件內(nèi) 外部所有結(jié)構(gòu)尺寸的精密測量的同時,可實現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析??蓪λ芰?、 陶瓷、復合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進行全尺寸測量和裝配評估等。一 年維護一次,大大提高設備使用率,是大批量注塑件高效快速檢測的理想工具。

Dantsin- sensofar3D

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Dantsin-Sensofar3D非接觸式測量系統(tǒng)通過相移對不同位置上的初始相位進行求解,獲得連續(xù)的表面相位分布再進而還原出表面形貌。對于光滑且角度變化不大的大區(qū)域表面的平整度狀況,可以提供準確高效的測量結(jié)果。

隨著鈣鈦礦型材料在各個領域的深入研究和應用,Dantsin-Sensofar3D非接觸式測量系統(tǒng)PSI技術將在精確測量和控制表面粗糙度方面發(fā)揮更加重要的作用。

Trimos TR SCAN

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Trimos TR-Scan 系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀,系統(tǒng)采用TRIMOS 技術數(shù)字全息三維顯微測量技術(DHM) ,廣泛應用于高精密微觀表面檢查。與傳 統(tǒng)非接觸測量技術相比,測量速度快,對震動不敏感,真正的實現(xiàn)三維形貌納米 級測量。模塊化的設計理念,可配置共焦顯微系統(tǒng),  探針測量系統(tǒng),傳感器直接 更換,方便快捷,極大的滿足了不同的應用范圍。

廣泛應用在工業(yè)制造領域:汽車、航天、航空、表面涂層 、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機系統(tǒng)、 半導體等行業(yè)。

瑞士丹青 V1 和 V1+立式測量儀器

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瑞士丹青 V1 系列立式測量儀可以用于測量物體的表面,幫助用戶快速準確地了解物體 的形狀和尺寸。還可以用于測量孔徑以及孔心距,這一功能對于需要精確控制孔 徑大小以及精確布局孔的位置的行業(yè)尤為重要。同時可以幫助用戶測量物體的最 大和最小尺寸,并計算其差值,以便進行質(zhì)量控制。這些功能的升級使得 V1 系 列立式測量儀成為一種多功能的測量工具,能夠滿足各種復雜的測量需求。

Aberlink Extol

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瑞士丹青在線三坐標測量系統(tǒng),三角機械結(jié)構(gòu),并聯(lián)運動機構(gòu)替代傳統(tǒng)坐標測量機各軸的運動單元,速度快,使得測量效率無以倫比。全密封循環(huán)機械軸承,不僅抗灰塵耐磨能力優(yōu)異,而且不用氣源,具備廣泛的車間適應性。全自動溫度補償系統(tǒng),允許 EXTOL 在惡劣車間現(xiàn)場環(huán)境中工作,并確保結(jié)果準確如一。兼具自動機床刀具偏移補償和自動化接口,可無縫集成在自動化加工單元, 柔性與靈活性游刃有余。

瑞士丹青輪廓粗糙度測量儀

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Optacom  輪廓儀采用雙軸坐標式聯(lián)動掃描技術,能夠一次測量即可計算出輪廓  圓度粗糙度數(shù)值。這種設備具有 XZ 雙軸聯(lián)動掃描技術,使得測量范圍更加廣泛。測量儀最小測量的內(nèi)螺紋尺寸為 M2.5,相較于專業(yè)的螺紋測量機只能測量螺紋規(guī)的單一項目,此設備無論是大型工件或者小尺寸工件以及螺紋規(guī),均可滿足測量。

Wyler電子水平儀

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Wyler 電子水平儀:小巧、輕便、靈活并且精確,對于機床制造商的快速、精確、 可靠和可再現(xiàn)地多次重復測量導軌的質(zhì)量提供了便捷條件。無論是制造過程還是安調(diào)過程,電子水平儀都可以對導軌制造精度、裝配精度、溫度變化或彈性變形 等因素造成機床基體變化進行測試。對于機床的制造商,電子水平儀在機床的靜態(tài)幾何精度測試任務中優(yōu)于任何其他儀器。

SEMI-e 2024介紹

SEMI-e 2024第六屆深圳國際半導體展將于6月26-28日在深圳國際會展中心(寶安新館)4/6/8號館召開!SEMI-e多年來深耕半導體展會領域,已發(fā)展成為華南影響力和專業(yè)性的重要展會平臺。展會聚焦芯片設計、晶圓制造與封裝,半導體專用設備與零部件,先進材料,第三代半導體/IGBT,汽車半導體為主的半導體產(chǎn)業(yè)鏈,全面展示半導體行業(yè)的新技術、新產(chǎn)品、新亮點、新趨勢,構(gòu)建半導體產(chǎn)業(yè)交流融合的新生態(tài)。60,000平方米展出面積,800余家展商,多家行業(yè)協(xié)會聯(lián)合主辦,預計迎來60000+觀眾,為半導體產(chǎn)業(yè)鏈的升階發(fā)展搭建精準對接、雙向奔赴的平臺!

展館信息:

開展時間:

6月26日(周三)  9:00-17:00

6月27日(周三)  9:00-17:00

6月28日(周五)  9:00-15:00

展會地點:

展館地址:廣東省深圳市寶安區(qū)福海街道展城路1號

展廳:4/6/8號館

觀眾登錄:深圳國際會展中心(寶安新館)-南登錄大廳進入




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