北京百納創(chuàng)業(yè)科技有限公司
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當(dāng)前位置：北京百納創(chuàng)業(yè)科技有限公司>>分析儀器>> BN/DT-LM鋁膜測(cè)厚儀

鋁膜測(cè)厚儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)BN/DT-LM

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地北京市

更新時(shí)間：2024-09-19 15:40:30瀏覽次數(shù)：104次

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合 方阻 ±0.15Ω
鋁膜測(cè)厚儀型號(hào)：BN/DT-LM

可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測(cè)量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20Å+2%讀數(shù))

鋁膜測(cè)厚儀型號(hào)：BN/DT-LM

鋁膜測(cè)厚儀

可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃

可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃

可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃


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