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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)顯微鏡>>顯微鏡>> TM3日本hrd-thermal熱物理顯微鏡熱射流率測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)TM3
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間：2024-10-09 13:23:16瀏覽次數(shù)：320次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
|---|
日本hrd-thermal熱物理顯微鏡熱射流率測(cè)量 TM3 特點(diǎn)介紹
用于測(cè)量薄膜和微區(qū)域的熱射流率
熱物性顯微鏡是測(cè)量熱射流率的裝置，熱射流率是熱物性值之一。
這是一種可以測(cè)量樣品的點(diǎn)、線、面熱物理性質(zhì)的裝置。
還可以測(cè)量微米級(jí)的熱物理性質(zhì)值的分布，這在傳統(tǒng)的熱物理性質(zhì)測(cè)量設(shè)備中被認(rèn)為是困難的。
這是一個(gè)能夠?qū)嵛锢硖匦赃M(jìn)行非接觸式高分辨率測(cè)量的設(shè)備。
檢測(cè)光斑直徑為 3 μm，可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域的高分辨率熱物性測(cè)量（點(diǎn)、線、面測(cè)量）。
由于可以在不同深度進(jìn)行測(cè)量，因此可以測(cè)量從薄膜、多層膜到散裝材料的所有物體。
也可以測(cè)量基材上的樣品。
使用激光的非接觸式測(cè)量。
可以檢測(cè)薄膜下的裂紋、空隙和剝落。
日本hrd-thermal熱物理顯微鏡熱射流率測(cè)量 TM3 規(guī)格參數(shù)
名稱/產(chǎn)品名稱熱物性顯微鏡/熱顯微鏡
測(cè)量模式熱物性分布測(cè)量（一維/二維/1點(diǎn)）
測(cè)量項(xiàng)目熱射流率，（熱擴(kuò)散率），（導(dǎo)熱率）
檢測(cè)光斑直徑約3μm
1點(diǎn)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間10秒
待測(cè)薄膜厚度：數(shù)百nm至數(shù)十μm
重復(fù)性Pyrex 和硅的熱射流率小于±10%
樣本1.試料ホルダー30mm×30mm 厚さ5mm
2.板狀試料 30mm×30mm以內(nèi)で厚さ3mm以內(nèi)
試料表面の鏡面研磨が必要です。
試料表面にＭｏのスパッタリングが必要です。
使用溫度範(fàn)囲24℃±1℃（裝置內(nèi)蔵溫度センサーによる）
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