深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司
中級會(huì)員 | 第2年

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當(dāng)前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測試儀>> EC-80P納普森Napson無損測量手動(dòng)電阻測試儀檢測儀

納普森Napson無損測量手動(dòng)電阻測試儀檢測儀

參   考   價(jià): 26800

訂  貨  量: ≥100 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號EC-80P

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2024-10-12 12:12:07瀏覽次數(shù):258次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 類型 其他
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合
納普森Napson無損測量手動(dòng)電阻測試儀檢測儀 EC-80P

只需簡單接觸筆型探針即可進(jìn)行測量
可在任意位置進(jìn)行測量,不會(huì)損壞樣品

納普森Napson無損測量手動(dòng)電阻測試儀檢測儀 EC-80P 特點(diǎn)介紹


只需簡單接觸筆型探針即可進(jìn)行測量

可在任意位置進(jìn)行測量,不會(huì)損壞樣品

易于操作的手持探針

通過切換測量模式,調(diào)整片材電阻和電阻率

可顯示在

通過JOG撥盤輕松設(shè)定測量條件

電阻測量探頭按范圍排列

寬敞,支持廣泛的范圍

(電阻探針:最多2根+PN判定探針

同時(shí)接続可能)

探頭2~第三條是可選的。

測量光斑直徑(探針芯直徑):

14mmΦ


納普森Napson無損測量手動(dòng)電阻測試儀檢測儀 EC-80P 規(guī)格參數(shù)


芯片樣品;

硅載體、化合物(GaN、GaP)、Epi、

擴(kuò)散層、SiC等

各種薄膜樣品;

半導(dǎo)體處理膜、金屬膜、ITO膜等

其他

*原則上,如果在測量范圍內(nèi),則為

也可以用樣品進(jìn)行測量。

[電阻率] 1m 至200Ω.cm

(*所有探頭類型的總范圍/厚度500um)

[表面電阻] 10m 至3k2/sq

(*所有探頭類型的總范圍)

*有關(guān)每種探頭類型的測量范圍,請參見下文。

(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω.cm)

(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω.cm)

(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω).cm)

(4) S-高:1,000-3,0002/□(60-200Ω.m)

(5)太陽能晶圓:5-500Ω2/□(0.2-15Ω.cm)

產(chǎn)品尺寸

·機(jī)身:W255xD275xH95mm,4kg

·探頭部分:20mmΦx80mm





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