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當前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測試儀>> EC-80日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式
產(chǎn)品型號EC-80
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2024-10-13 19:23:43瀏覽次數(shù):357次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)日本進口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評估設(shè)備
日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用
產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 其他 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式 EC-80 特點介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
化合物半導體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式 EC-80 規(guī)格參數(shù)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
化合物半導體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
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