目錄:上海首立實(shí)業(yè)有限公司>>HORIBA（過(guò)程&環(huán)境）>> LEM-CT-670-G50實(shí)時(shí)膜厚檢測(cè)儀
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更新時(shí)間：2024-03-19 07:09:27瀏覽次數(shù)：1880評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,汽車,電氣 |
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實(shí)時(shí)的干涉測(cè)量設(shè)備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測(cè)。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度變化導(dǎo)致不同的光路長(zhǎng)度時(shí)，使用干涉測(cè)量法。通過(guò)循環(huán)，系統(tǒng)能在監(jiān)控區(qū)使用實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的方法計(jì)算蝕刻和鍍膜的速度，在規(guī)定的膜厚和槽深來(lái)進(jìn)行終點(diǎn)檢測(cè)?；谶@個(gè)相對(duì)簡(jiǎn)單的理論，系統(tǒng)不但非常穩(wěn)定，并且可用于復(fù)雜的多層薄膜。
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