產(chǎn)品名稱：原子力顯微鏡

　　設(shè)備型號：BrukerDimensionEdge

　　原子力顯微鏡的技術(shù)指標：

　　1.X-Y掃描范圍：90μmx90μm（典型值），85μm（最小值）

　　2.Z系列范圍：成像和力斜坡模式下典型值為10μm，最小值為9.5μm

　　3.AFM模式：接觸模式、輕敲模式、力調(diào)制模式、電學(xué)模式、掃描電容、掃描電勢

　　4.樣品兼容性：能夠適應(yīng)各種類型的樣品，包括軟材料、生物樣品和硬質(zhì)材料等

　　5.環(huán)境控制：對于一些特殊的樣品，如生物組織或液體中的納米顆粒，需要在特定的環(huán)境條件下（如特定的溫度、濕度或氣氛）進行測試

　　6.垂直本底噪聲：<50pmRMS，典型成像帶寬（高達625Hz）

　　測試功能：

　　1.三維圖像：提供高分辨率的三維表面形貌圖像，顯示樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)，如粗糙度、紋理和顆粒大小。

　　2.樣品表面參數(shù)：測量并量化樣品表面的粗糙度，包括平均粗糙度和峰谷深度等參數(shù)。

　　3.材料力學(xué)性質(zhì)：通過力-距離曲線，獲得材料的力學(xué)性質(zhì)，如硬度、彈性模量和粘附力。

　　4.材料電學(xué)性質(zhì)：獲得樣品表面的電學(xué)性質(zhì)，如電勢、電導(dǎo)率、電荷分布。

　　5.生物分子研究：測量生物分子間的相互作用。

　　樣品要求：

　　1.樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

　　2.粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg；

　　3.粉末/液體樣品請備注好制樣條件，包括分散液，超聲時間及配制濃度；

　　4.薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標明測試面！若尺寸過大請?zhí)崆啊?/p>