T5260A-2KA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀關(guān)于聚酰亞胺材料測(cè)試的實(shí)例分享
 

　　引言：本期測(cè)試的是聚酰亞胺材料，該材料具有高溫穩(wěn)定性、耐腐蝕性、高韌性及阻燃性等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于航空航天、微電子、納米、液晶、分離膜、激光等領(lǐng)域。且因其在性能和合成方面的突出特點(diǎn)，不論是作為結(jié)構(gòu)材料或是作為功能性材料，其巨大的應(yīng)用前景已經(jīng)得到充分的認(rèn)識(shí)。
 

　　本次分享的是使用分離式諧振腔法，測(cè)量聚酰亞胺材料在微波特性上的介電常數(shù)和損耗角正切值，該方法常用于低損耗介質(zhì)材料電磁參數(shù)測(cè)量，突出優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量準(zhǔn)確度高，可廣泛運(yùn)用于航空航天、通信、電子電工等行業(yè)領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜、基板類材料的電磁參數(shù)測(cè)試。
 

測(cè)試場(chǎng)景圖
 

圖1 測(cè)試場(chǎng)景圖
 

　　被測(cè)材料實(shí)物圖
 

圖2 聚酰亞胺材料樣品圖
 

　　測(cè)試原理
 

　　分離式諧振腔常用于平板、薄膜類介質(zhì)材料的測(cè)量，測(cè)量其在高頻微波頻段的介電常數(shù)和損耗角正切值。
 

　　將薄膜樣品置于分離式諧振腔中，通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連接測(cè)試夾具，測(cè)量樣品放置前和放置后諧振峰的頻率偏移量△f以及品質(zhì)因數(shù)Q值變化，然后基于嚴(yán)格的電磁場(chǎng)分析，軟件計(jì)算得到材料的介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)。
 

圖3 分離式諧振腔測(cè)試示意圖
 

　　測(cè)試內(nèi)容
 

　　根據(jù)手冊(cè)指標(biāo)要求，被測(cè)樣品(聚酰亞胺材料)，在測(cè)試頻率10.06GHz附近，其介電常數(shù)實(shí)部的測(cè)試結(jié)果標(biāo)稱值為3.2，系統(tǒng)誤差允許范圍為±0.1以內(nèi)；損耗角正切值的測(cè)試結(jié)果標(biāo)稱值為6.3x10^-2，系統(tǒng)誤差允許范圍為±0.001以內(nèi)。
 

　　經(jīng)過測(cè)試，數(shù)據(jù)結(jié)果如下所示。
 

　　置樣后介電常數(shù)測(cè)試（10GHz）
 

　　如圖所示，在夾具中放入聚酰亞胺材料后，由材料測(cè)量軟件抓取當(dāng)前矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的S參數(shù)數(shù)據(jù)，計(jì)算出樣品的三次介電常數(shù)測(cè)試值，分別為3.197，3.133，3.074，取平均值即3.135。
 

　　參考第三方的數(shù)據(jù)報(bào)告，測(cè)試結(jié)果精確度符合要求。
 

圖4.1 樣品介電常數(shù)測(cè)試結(jié)果圖
 

　　置樣后損耗角正切測(cè)試（10GHz）
 

　　如圖所示，在夾具中放入聚酰亞胺材料后，由材料測(cè)量軟件抓取當(dāng)前矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的S參數(shù)數(shù)據(jù)，計(jì)算出樣品的三次損耗角正切測(cè)試值，分別為6.95x10^-2，6.36x10^-2，5.49x10^-2，取平均值即6.267x10^-2。
 

　　參考第三方的數(shù)據(jù)報(bào)告，測(cè)試結(jié)果精確度符合要求。
 

圖4.2 樣品損耗角正切測(cè)試結(jié)果圖
 

　　經(jīng)測(cè)試，測(cè)試結(jié)果符合要求
 

　　聚酰亞胺材料的介電常數(shù)和損耗角正切值，指標(biāo)符合實(shí)驗(yàn)室標(biāo)稱值。