德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest7400 非磁性 返回列表頁

德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest7400  非磁性

創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測(cè)量系統(tǒng)理想的解決方案。

新概念的優(yōu)勢(shì)

直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，無需專業(yè)技能，也可在最短的時(shí)間內(nèi)完成困難測(cè)量任務(wù)。優(yōu)良的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計(jì)值和讀數(shù)包括趨勢(shì)圖和直方圖、過程能力指數(shù)"Cp"和“Cpk"以及組統(tǒng)計(jì)值。錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)值。

龐大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達(dá)500批組的250,000個(gè)讀數(shù)。為滿足高精度測(cè)量的要求，7400探頭可達(dá)到5點(diǎn)校準(zhǔn)（包括零點(diǎn)）。預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840，SSPC，“瑞典"，“澳大利亞"的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。 此外，延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測(cè)量。

為了方便建立和評(píng)估測(cè)量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標(biāo)準(zhǔn)配置包括計(jì)算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional"。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點(diǎn)：測(cè)量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報(bào)告中。

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA^®//USB接口轉(zhuǎn)換器。

模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)。

SIDSP^® 明顯優(yōu)勢(shì)

EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對(duì)溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP^®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過程，而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢(shì)。精密生產(chǎn)過程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

重現(xiàn)性

讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是的導(dǎo)致誤差的根源，所以保護(hù)測(cè)量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP^®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)。回傳的信號(hào)直接進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測(cè)量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測(cè)量系統(tǒng)的信號(hào)傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒問題，加長(zhǎng)的電纜線同樣具有的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP^®探頭的優(yōu)秀性能。

在生產(chǎn)過程中，SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準(zhǔn)程序，探頭在特征曲線上高達(dá)50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)，如此多個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)使得特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被儲(chǔ)存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產(chǎn)過程中，探頭的溫度性能地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣，每個(gè)探頭都可以獨(dú)立調(diào)整溫度補(bǔ)償，在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng)，特征曲線仍可保持其精確度。

探頭的適應(yīng)性

有色金屬的導(dǎo)電性可能會(huì)有所不同。對(duì)這些基體使用自動(dòng)補(bǔ)償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測(cè)量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。

所有的SIDSP^®探頭充分地適應(yīng)測(cè)量各種幾何形狀的樣品?？梢詫?duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。

探頭設(shè)計(jì)選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

對(duì)于粗糙表面，“F2 HD"型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

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可選探頭

種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求。

可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。

與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。 因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測(cè)量進(jìn)程。

探頭技術(shù)參數(shù)

1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)

2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速"，測(cè)量速度主要取決于操作

5.根據(jù) DIN 55350第13部分

6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).

7.包括涂層

探頭設(shè)計(jì)選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

　　　　　　　F 2 HD 探頭

對(duì)于粗糙表面，“F2 HD"型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 主機(jī)技術(shù)參數(shù)

MiniTest 7400 可選配件