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參考價(jià): | ¥ 36899 |
訂貨量: | 1件 |
- 產(chǎn)品型號(hào)
- OLYMPUS/奧林巴斯 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 杭州市 所在地
訪問(wèn)次數(shù):57更新時(shí)間:2024-10-13 09:45:53
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合 | 新舊 | 二手和全新 |
奧林巴斯BX51工業(yè)檢測(cè)顯微鏡是一款顯微鏡,廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)、芯片檢查、切片分析等領(lǐng)域。它具有先進(jìn)的光學(xué)性能、精密的機(jī)械結(jié)構(gòu),以及靈活的模塊化設(shè)計(jì),能夠滿足高精度檢測(cè)和分析需求。尤其在芯片檢測(cè)、金屬材料分析、半導(dǎo)體行業(yè)和切片分析中,BX51顯微鏡表現(xiàn)出的性能。
以下是BX51顯微鏡的特點(diǎn)、主要參數(shù)、使用效果、應(yīng)用場(chǎng)景、貨號(hào)和安裝流程的詳細(xì)介紹。
一、二手奧林巴斯BX51工業(yè)檢測(cè)顯微鏡特點(diǎn)
高精度光學(xué)系統(tǒng):BX51采用了奧林巴斯的UIS2(無(wú)限遠(yuǎn)校正)光學(xué)系統(tǒng),具有分辨率和對(duì)比度,能夠清晰捕捉微觀結(jié)構(gòu),適用于高精度檢測(cè)工作。
多種觀察模式:BX51支持多種觀察模式,包括明場(chǎng)、暗場(chǎng)、相差、偏光、微分干涉(DIC)等,適用于不同類型樣本的檢測(cè)和分析,特別適合復(fù)雜結(jié)構(gòu)和表面缺陷的觀察。
模塊化設(shè)計(jì):BX51的模塊化設(shè)計(jì)允許用戶根據(jù)不同的檢測(cè)需求配置和更換物鏡、濾光片、光源等,具備靈活性,適應(yīng)各種應(yīng)用場(chǎng)景。
熒光檢測(cè)能力:配備熒光觀察功能時(shí),能夠進(jìn)行多色熒光檢測(cè),適合半導(dǎo)體材料的特性分析和生物樣本的熒光標(biāo)記。
精密機(jī)械結(jié)構(gòu):顯微鏡的載物臺(tái)和聚焦系統(tǒng)經(jīng)過(guò)精密設(shè)計(jì),操作平滑,能夠進(jìn)行微米級(jí)的精確對(duì)焦和樣本移動(dòng),確保檢測(cè)和成像的精度。
堅(jiān)固耐用:BX51的結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用,能夠在長(zhǎng)時(shí)間高頻率使用的情況下,保持設(shè)備的穩(wěn)定性,適合工業(yè)實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線的日常操作。
二、主要參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng):UIS2 無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)
物鏡轉(zhuǎn)盤:6孔物鏡轉(zhuǎn)盤,支持多種物鏡切換
物鏡類型:平場(chǎng)消色差物鏡、超長(zhǎng)工作距離物鏡(適合芯片和大樣本檢測(cè))
物鏡倍率范圍:4x - 100x
目鏡:10倍寬視野目鏡(F.N. 22),可選配15倍、20倍目鏡
光源類型:100W鹵素?zé)艋騆ED光源,支持多種光源模式切換
熒光光源:100W汞燈或氙燈(用于熒光觀察)
聚光鏡:阿貝聚光鏡,NA 1.25,帶可調(diào)光圈,適合不同觀察模式的光線調(diào)整
載物臺(tái):機(jī)械移動(dòng)式或電動(dòng)載物臺(tái),尺寸為160mm x 250mm,適合大尺寸樣本的精確移動(dòng)
載物臺(tái)移動(dòng)范圍:X軸:76mm,Y軸:50mm
聚焦系統(tǒng):粗調(diào)和微調(diào)同軸控制,微調(diào)精度可達(dá)1μm
光路切換:雙通道光路切換,適合熒光和明場(chǎng)觀察的快速切換
數(shù)碼成像接口:支持CCD、CMOS相機(jī),標(biāo)準(zhǔn)C接口,適用于工業(yè)檢測(cè)成像
偏光觀察:支持偏光功能,適合金屬、晶體材料的分析
DIC微分干涉:微分干涉觀察功能用于增強(qiáng)透明樣品的三維效果
熒光濾光片:支持多色熒光濾光片(如DAPI、FITC、TRITC)
冷卻系統(tǒng):熒光光源采用強(qiáng)制冷卻設(shè)計(jì),確保長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)的穩(wěn)定性
電源要求:AC 100-240V,50/60Hz
光強(qiáng)調(diào)節(jié):光源亮度連續(xù)可調(diào),適應(yīng)不同樣本和檢測(cè)條件
顯微鏡重量:約15kg
物鏡校正:無(wú)限遠(yuǎn)校正物鏡,減少色差和球差
暗場(chǎng)觀察:可選暗場(chǎng)聚光鏡,用于高對(duì)比度的表面缺陷檢測(cè)
鏡筒角度:可調(diào)節(jié)45°或垂直鏡筒,適合不同操作需求
光軸調(diào)整:自動(dòng)光軸對(duì)齊功能,減少人為操作誤差
外形尺寸:210mm x 290mm x 520mm
物鏡接口:標(biāo)準(zhǔn)UIS2接口,兼容多種奧林巴斯物鏡
數(shù)碼成像功能:支持連接高清攝像頭進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察和圖像分析
溫度適應(yīng)性:適應(yīng)不同溫度環(huán)境,適合工業(yè)檢測(cè)和實(shí)驗(yàn)室長(zhǎng)時(shí)間使用
熒光濾光片架:內(nèi)置6位濾光片架,方便多種熒光濾光片的快速切換
擴(kuò)展性:可擴(kuò)展激光共聚焦成像系統(tǒng),用于更高精度的表面檢測(cè)
三、二手奧林巴斯BX51工業(yè)檢測(cè)顯微鏡使用效果
高精度芯片檢測(cè):在芯片檢查中,BX51能夠提供高分辨率的圖像,特別適合用于集成電路、電路板、半導(dǎo)體晶片的表面檢測(cè)和缺陷分析。通過(guò)明場(chǎng)、暗場(chǎng)以及熒光成像,能夠清晰地檢測(cè)芯片表面微小的缺陷或雜質(zhì)。
材料和切片分析:對(duì)于金屬材料、玻璃或塑料切片,BX51能夠提供精確的材料成分分析。使用偏光或微分干涉(DIC)觀察時(shí),可以獲得材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和晶體邊界的詳細(xì)信息,適合材料科學(xué)和工業(yè)質(zhì)檢。
工業(yè)缺陷檢測(cè):BX51顯微鏡在工業(yè)檢測(cè)中的應(yīng)用非常廣泛,尤其是在金屬、半導(dǎo)體、薄膜材料的檢測(cè)中。通過(guò)暗場(chǎng)和熒光成像模式,可以增強(qiáng)表面缺陷的對(duì)比度,便于發(fā)現(xiàn)表面微小裂紋、異物等問(wèn)題。
四、應(yīng)用場(chǎng)景
芯片和半導(dǎo)體檢測(cè):BX51顯微鏡特別適合半導(dǎo)體行業(yè)中用于芯片、集成電路、晶片的檢測(cè)和缺陷分析,能夠精確識(shí)別微小缺陷和材料表面問(wèn)題。
材料科學(xué)研究:在金屬、玻璃、陶瓷等材料的晶體分析中,BX51可以通過(guò)偏光或DIC觀察模式,精確分析材料的微觀結(jié)構(gòu),廣泛用于材料科學(xué)領(lǐng)域。
切片分析:在工業(yè)切片分析中,BX51的高分辨率成像系統(tǒng)能夠清晰呈現(xiàn)切片的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu),適用于對(duì)塑料、薄膜等材料的研究。
工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)檢:BX51也常用于工業(yè)生產(chǎn)線中的質(zhì)檢環(huán)節(jié),通過(guò)檢測(cè)材料的表面缺陷、結(jié)構(gòu)一致性,確保生產(chǎn)質(zhì)量。
五、貨號(hào)
奧林巴斯BX51顯微鏡的貨號(hào)會(huì)根據(jù)配置和用途的不同有所變化,常見(jiàn)的型號(hào)和配置包括:
BX51:基礎(chǔ)款,用于明場(chǎng)和相差觀察,適合一般檢測(cè)需求。
BX51F:熒光觀察型號(hào),配備熒光濾光片和熒光光源,適合多色熒光標(biāo)記實(shí)驗(yàn)和材料檢測(cè)。
BX51DIC:帶微分干涉(DIC)功能,適合透明樣品的立體結(jié)構(gòu)分析。
BX51M:用于工業(yè)材料分析的型號(hào),特別適合金屬和半導(dǎo)體檢測(cè)。
六、安裝流程
開(kāi)箱檢查:確認(rèn)所有配件齊全,包括顯微鏡主體、物鏡、目鏡、光源、熒光濾光片、電源線和載物臺(tái)等。
安裝主體:將顯微鏡主體放置在穩(wěn)定的工作臺(tái)上,確保顯微鏡位置穩(wěn)固,并留出足夠的操作空間。
安裝物鏡和目鏡:將物鏡(如10x、40x、100x油鏡)安裝到物鏡轉(zhuǎn)盤上,并將10倍或15倍目鏡插入目鏡筒。
安裝光源和濾光片:根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,安裝鹵素?zé)艋騆ED光源,并將熒光濾光片安裝到濾光片架上。
連接電源并測(cè)試光源:將顯微鏡連接到電源,打開(kāi)光源并進(jìn)行亮度調(diào)節(jié),確保光線均勻,樣本清晰可見(jiàn)。
調(diào)試顯微鏡:通過(guò)載物臺(tái)和聚焦系統(tǒng)調(diào)節(jié)顯微鏡,確保樣本圖像清晰、對(duì)比度合適。測(cè)試所有觀察模式,如明場(chǎng)、熒光、相差等,確認(rèn)設(shè)備正常運(yùn)行。
安裝成像設(shè)備(可選):如果需要進(jìn)行數(shù)碼成像,將CCD或CMOS相機(jī)安裝到顯微鏡的成像接口,并進(jìn)行圖像采集測(cè)試。
七、總結(jié)
奧林巴斯BX51工業(yè)檢測(cè)顯微鏡憑借其先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)、多功能觀察模式和靈活的配置選項(xiàng),成為芯片檢測(cè)、材料分析、切片研究等工業(yè)應(yīng)用中的理想工具。通過(guò)明場(chǎng)、暗場(chǎng)、熒光、偏光等模式,BX51可以精確檢測(cè)樣品的微觀結(jié)構(gòu),適合高精度的工業(yè)質(zhì)檢和科研分析。購(gòu)買時(shí)可根據(jù)具體的檢測(cè)需求選擇合適的配置,并確保正確的安裝和調(diào)試以獲得最佳的使用效果。