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新品到貨!JIMA分辨測(cè)試卡RC-05B!

2025-4-17  閱讀(36)

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4月深圳倉(cāng)庫(kù)到貨,歡迎咨詢!

客戶4月初詢價(jià)該產(chǎn)品,經(jīng)過(guò)議價(jià)對(duì)比價(jià)格后,4月中已下單,并簽訂正式合同訂貨。

4月初到貨深圳倉(cāng)庫(kù)后,倉(cāng)庫(kù)負(fù)責(zé)人王工對(duì)產(chǎn)品驗(yàn)收合格后辦理入庫(kù),已經(jīng)發(fā)往天津的客戶了。


JIMA 分辨測(cè)試卡 RC-05B 具有以下性能特點(diǎn)1

  • 高分辨率支持:采用新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作,能支持 3 微米至 50 微米(3µm 至 50µm)的分辨率,對(duì)應(yīng) 6 微米和 100 微米(6µm 和 100µm)之間的焦斑尺寸,可滿足微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn) X 射線檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)高精度分辨率校準(zhǔn)和監(jiān)控的需求。

  • 多種狹縫尺寸:狹縫尺寸包括 3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米,共 16 種規(guī)格,可全面覆蓋不同分辨率檢測(cè)場(chǎng)景,精確測(cè)量系統(tǒng)在各種尺度下的分辨率表現(xiàn)。

  • 特定吸收材料與布局:吸收材料為厚度大于 1.0µm 的金(Au),Slit 的數(shù)量為 3 行和 2 個(gè)空格,這種設(shè)計(jì)有助于在 X 射線檢測(cè)中形成清晰的線條圖案,便于觀察和分析系統(tǒng)對(duì)不同寬度線條的分辨能力,從而準(zhǔn)確評(píng)估系統(tǒng)性能。

  • 小巧的外形尺寸:通常芯片尺寸較小,例如可能采用 2x2mm、8x8mm 硅基等不同布局方式,方便在各種 X 射線檢測(cè)設(shè)備中靈活放置和使用,適應(yīng)不同的檢測(cè)空間和光路設(shè)置。


該測(cè)試卡主要用于校準(zhǔn)和監(jiān)控 X 射線檢測(cè)系統(tǒng)的分辨率,通過(guò)將其放置在 X 射線管前,利用操縱器移動(dòng)測(cè)試圖,觀察不同狹縫尺寸的線條圖案,只要線條清晰可見(jiàn),就可繼續(xù)測(cè)試,進(jìn)而近似計(jì)算焦點(diǎn)大小(小分辨率乘以 2),以確保 X 射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)下能獲得高質(zhì)量的圖像結(jié)果


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