玉崎科學 SANKO山高 雙型涂層電磁膜厚計 返回列表頁

玉崎科學 SANKO山高 雙型涂層電磁膜厚計

玉崎科學 SANKO山高 雙型涂層電磁膜厚計

母材自動識別測量

SWT-NEO-FN：SWT-NEO+SFN-325

特征

自動識別并測量黑色金屬和有色金屬測量材料

通過調零和標準調整可立即進行測量

目的

噴漆/襯里/電鍍

防蝕鋁等絕緣膜

規(guī)格

測量范圍

鐵基：0~3.00mm

有色基：0~2.50mm

顯示方式

LCD數字、顯示保持

顯示分辨率

1μm：0-999μm

切換

0.1μm：0-400μm

0.5μm：400-500μm

0.01mm：鐵基（1.00-3.00mm）

有色基（1.00-2.50mm）

測量精度

均勻表面上 0 至 100 μm：±1 μm（黑色金屬和有色金屬）

或指示值的 ±2% 以內

101 μm 至 3.00 mm：±2% 以內（黑色金屬基底）

101 μm 至 2.50 mm：± ±2% 以內2%（有色金屬基材）

校準曲線記憶

鐵和有色金屬各一個

電源

AA 堿性電池 (1.5V) x 2 連續(xù)使用時間（25 小時*）

AC 適配器（可選），

帶自動斷電功能

*最長（可能會根據使用條件而變化）

工作溫度

0～40℃（無凝結）

尺寸

72(寬)×30(高)×156(深)毫米

重量

約200g（含電池）

配件

標準厚板、測試調零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書

探測

1點恒壓接觸式，帶V切口，φ15 x 50.9mm