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SHASHIN寫(xiě)真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀

2024-11-2  閱讀(53)

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# 2024年新品發(fā)布會(huì)#

日期:2024年9月29日

時(shí)間:8:30-18:30

近期我司新推出升級(jí)了SHASHIN寫(xiě)真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀

紅外透射膜厚度監(jiān)測(cè)器可測(cè)量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測(cè)厚儀,可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級(jí)別到生產(chǎn)過(guò)程中的在線檢查的所有情況。

它是一種紅外薄膜測(cè)厚儀,采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng),可通過(guò)同時(shí)測(cè)量 100 多個(gè)波長(zhǎng)的光譜儀,準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、密度、成分等多個(gè)參數(shù)。

1測(cè)量半透明片材、

低反射膜、硅等的厚度,這在光學(xué)干涉測(cè)量法中是困難的

2微型光纖探頭

由于使用了 30 毫米的小型反射探頭,

它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。

此外,由于探頭僅通過(guò)

光纖連接到主機(jī),因此具有出色的耐環(huán)境性。

3高速測(cè)量:

100 個(gè)點(diǎn)或更高處同時(shí)采樣 950~1650 nm 的近紅外波長(zhǎng)

可實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。

可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)和測(cè)量。

由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn),因此具有出色的耐用性和可靠性。


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