產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
電子,交通 |
中國(guó)臺(tái)灣固緯GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀
是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒於使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和迴圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。並提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案
中國(guó)臺(tái)灣固緯GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀
是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒於使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和迴圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。並提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案
中國(guó)臺(tái)灣固緯GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀
是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒於使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和迴圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。並提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
TEST RANGE |
| 54/74 series TTL |
CMOS 40/45 |
DRIVE |
TEST VOLTAGE |
| 2.5/3.0/3.3/5V |
TEST TIME |
| Average Search Time: 0.6 Sec |
DISPLAY |
| 16 Characters in 1 line LCD |
POWER SOURCE |
| AC 100V~240V+10%, 50/60Hz |
DIMENSIONS & WEIGHT |
| 335(W) x 105(H) x 300(D) mm Approx. 1.5kg |
GUT-6000BDigital IC Tester
GUT-6000BDigital IC Tester
GUT-6000B 固緯GUT-6000B 數(shù)字IC測(cè)試儀