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目錄:杭州科銘光電科技有限公司>>小麥面粉大米檢測(cè)化驗(yàn)儀器>>谷物分析儀>> KM-SDY水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)

水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)
  • 水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 科銘光電
  • 型號(hào) KM-SDY
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 杭州市
屬性

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更新時(shí)間:2024-12-25 07:16:52瀏覽次數(shù):209評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 便攜式 應(yīng)用領(lǐng)域 食品,農(nóng)業(yè),綜合
水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測(cè)量,可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。

水稻育種研究中,水稻表型參數(shù)至關(guān)重要,水稻表型檢測(cè)儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測(cè)量,可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在水稻品種篩選、水稻產(chǎn)量預(yù)測(cè)、穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體,一站式解決水稻的表型參數(shù)測(cè)量問(wèn)題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。

 

水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍和誤差:

1、水稻畝穗數(shù)測(cè)量誤差: ≤±5%

2、稻穗形態(tài)測(cè)量范圍:   5~20cm

3、水稻夾角測(cè)量范圍:   0-180°

4、作物莖粗:        0-5.2cm

 

誤差

穗長(zhǎng)誤差:      ±2%

夾角測(cè)量誤差:  +5%

作物莖粗測(cè)量誤差:   ±1mm

千粒重測(cè)量誤差:     ±2%

株高測(cè)量范圍:       0.1-1.5m

水稻莖稈測(cè)量誤差:.....±5%

 


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