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目錄:賽默飛世爾科技(中國)有限公司>>掃描電鏡(SEM)>> Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡

Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡
  • Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-01-03 13:34:25瀏覽次數(shù):41評價(jià)

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應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡
340mm內(nèi)寬,12個端口,最多同時安裝三個EDS(兩個互為180°),EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺的傾轉(zhuǎn)軸正交

    Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡材料表征

先進(jìn)的材料表征實(shí)驗(yàn)室需要使用新技術(shù),且將分析儀器(包括 SEM掃描電鏡)的性能發(fā)揮到頂。這些實(shí)驗(yàn)室中絕大多數(shù)都是多用戶使用,且不同用戶的經(jīng)驗(yàn)水平不盡相同,同時,掃描電鏡的上機(jī)時間非常寶貴,因此必須避免在維護(hù)、對中、培訓(xùn)或圖像優(yōu)化上花費(fèi)過多時間。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進(jìn)行高分辨率成像,并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。憑借實(shí)時元素成像功能,即 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù),可以通過最直觀的界面實(shí)時獲取元素組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復(fù)雜操作,為您提供快捷和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)(軟件自動光學(xué)對中),Apreo 2 SEM 對用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員的要求非常低。此外,Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù),可實(shí)現(xiàn)自動電子束對中、消像散和聚焦等操作,這項(xiàng)技術(shù)的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外,Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果,使用 Apreo 2 SEM,任何人都能容易地獲得出色的結(jié)果。


場發(fā)射掃描電鏡Apreo SEM的主要特點(diǎn)

優(yōu)異的空間分辨率及襯度

優(yōu)異的空間分辨率及襯度

高分辨率——對于大多數(shù)樣品都能達(dá)到納米或亞納米級別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像、信號過濾、復(fù)合透鏡等技術(shù),幫助提升性能,達(dá)到最佳的分辨率。

廣泛的樣品適用性

廣泛的樣品適用性

對于多種樣品類型都有樣品靈活性,包括絕緣體、敏感材料、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù)。


   利用ColorSEM技術(shù)實(shí)時獲取定量能譜數(shù)據(jù)

利用ColorSEM技術(shù)實(shí)時獲取定量能譜數(shù)據(jù)

只需指尖輕輕點(diǎn)擊就可以獲取元素信息,實(shí)現(xiàn)實(shí)時定量面分布,帶來體驗(yàn)與易用性。

快速簡便的樣品裝載過程

快速簡便的樣品裝載過程

標(biāo)配的樣品臺可以一次性容納多個樣品,抽真空過程控制到最短時間,保證進(jìn)樣過程不浪費(fèi)時間,更加便利地裝載樣品。同時配備自動插拔的壓差光闌(PLA)可以實(shí)現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉的條件下一鍵切換。

   高度自動化

高度自動化

高度自動化技術(shù)包含F(xiàn)LASH技術(shù)(用于自動圖像微調(diào))、撤銷、用戶教程、圖像傾斜與拼接。

    大工作距離成像

大工作距離成像

市場上在大工作距離(10mm)下仍然保持高空間分辨率(1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡,即使對于新手用戶,也極易上手操作。

Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡規(guī)格


Apreo 2 S

Apreo 2 C

分辨率

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.5nm(樣品臺減速)

  • 1kV下0.9nm

  • 1kV下0.8nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.0nm(工作距離10mm,樣品臺減速)

  • 500V下0.8nm(樣品臺減速)

  • 200V下1.2nm(樣品臺減速)

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.9nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.2nm

  • 1kV下1.0nm(樣品臺減速)

  • 500V下1.2nm(樣品臺減速)

標(biāo)配探測器

  • ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+

  • ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+

PivotBeam

  • 選區(qū)電子通道襯度模式(也稱為"搖擺光束"模式)。

  • 不適用

選配探測器

  • DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼光譜、EBIC 等

ColorSEM技術(shù)(選配)

  • 基于能譜儀(EDS)實(shí)時定量數(shù)據(jù)對掃描電鏡圖像進(jìn)行著色??商峁┑臄?shù)據(jù)包含點(diǎn)分析、線掃描、面掃描、譜圖結(jié)果及可靠的Noran定量結(jié)果

著陸能量范圍

  • 20 eV – 30 keV

樣品臺偏壓(樣品臺減速)

  • -4000V~+600V

低真空模式

  • 選配:樣品倉氣壓范圍10-500Pa

樣品臺

  • 五軸電動馬達(dá)臺,XY軸行程范圍110x110mm2,傾斜范圍-15°~+90°,最大樣品重量:5kg(不傾斜)

最大束流

  • 50 nA(選配 400 nA)

標(biāo)準(zhǔn)樣品臺

  • 一款多功能樣品臺,可以容納18個標(biāo)準(zhǔn)釘臺(φ12mm),有三個預(yù)傾斜樁,截面樣品臺和兩個STEM載位

樣品倉

  • 340mm內(nèi)寬,12個端口,最多同時安裝三個EDS(兩個互為180°),EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺的傾轉(zhuǎn)軸正交


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