美國DeFelsko輪廓儀 表面粗糙度儀RTR3D
簡介
美國DeFelsko公司表面粗糙度輪廓儀PosiTectorRTR3D利用Testex™ Press-O-Film™拓片紙，測(cè)量噴砂表面和有紋理的涂層表面的2D/3D輪廓參數(shù)。
符合ASME B46, ASTM D4417/D7127, ISO 8503-5, NACE SP287, SSPC-PA 17, SSPC-SP5, SP6, SP10, SP11-87T等標(biāo)準(zhǔn)。
特點(diǎn)
簡便
-測(cè)量HL(波峰波谷高度)值和常見的2D/3D輪廓參數(shù)，如Ra、Rz、Sq、Spd等
-可測(cè)量平面、曲面和不規(guī)則表面
-更大的2.8英寸抗沖擊彩色觸摸屏，重新設(shè)計(jì)的按鍵，用于快速菜單導(dǎo)航
-在線幫助功能
-重置功能可迅速還原到出廠設(shè)置狀態(tài)
耐用
-防風(fēng)雨、防塵和防水--IP65防護(hù)等級(jí)外殼
-符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，增加了機(jī)身兩側(cè)的橡膠護(hù)邊
-帶減震保護(hù)的橡膠套，增加抗沖擊性
-表面粗糙度輪廓儀PosiTectorRTR3D
精確
-每臺(tái)儀器都有可追溯到經(jīng)認(rèn)可的國家實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)證書(包含Ra和Rt值)
-符合包括ISO和ASTM在內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)
通用
-PosiTector主機(jī)可配6000、200、UTG、RTR、SPG、DPM、SST、SHD或BHI探頭，組合成涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、表面粗糙度輪廓儀、露點(diǎn)儀、鹽分儀、邵氏硬度計(jì)或巴氏硬度計(jì)
-可選分體式探頭，方便測(cè)量
-自動(dòng)旋屏，可鎖定
-多種菜單語言可選，包括中文
高效
-計(jì)算并記錄每次測(cè)量的14個(gè)2D和3D參數(shù)
-在水平、垂直和對(duì)角線(XY、YX)之間定位2D軌跡
-截屏功能，可存儲(chǔ)100個(gè)截屏圖片并連接計(jì)算機(jī)查看
-電池續(xù)航時(shí)間延長30%
-通過USB數(shù)據(jù)線方便的連接計(jì)算機(jī)，并且給主機(jī)供電
-U盤模式--通過計(jì)算機(jī)訪問存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和圖形文件
-內(nèi)置時(shí)鐘，可標(biāo)注每個(gè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的時(shí)間
-可下載PosiSoft軟件用于下載和查看數(shù)據(jù)報(bào)告
美國DeFelsko輪廓儀 表面粗糙度儀RTR3D參數(shù)
型號(hào) | RTR3D1 | RTR3D3 |
主機(jī) | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 高級(jí)型 |
測(cè)量范圍(HL) | 20~115μm / 0.8~4.5mils | |
測(cè)量范圍(Rt) | 10~115μm / 0.4~4.5mils | |
最小粗糙度(Ra) | 2μm / 0.08mil | |
測(cè)量精度(HL) | ±5μm / ±0.2mils | |
測(cè)量精度(Rt) | ±(5μm+5%) / ±(0.2mil+5%) | |
測(cè)量精度(Ra) | ±(0.25μm+5%) / ±(0.01mil+5%) | |
加載面直徑 | ?6.35mm (?0.25inch) | |
加載壓力 | 110gf / 1.1N | |
視野 | 3.8x3.8mm / 0,149 x 0,149inch | |
橫向采樣 | 3.7μm / 0.145mil | |
垂直分辨率 | 100nm - 2D/3D，1nm - SDF / 3.93μin - 2D/3D，0.393μin - SDF | |
分辨率 | 0.1μm / ±(0.1mil | |
測(cè)量參數(shù)(2D) | Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rz、Rpc | |
測(cè)量參數(shù)(3D) | H、Sa、Sq、Sz、Sp、Sv、Spd | |
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