日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社公司主營(yíng)光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導(dǎo)體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測(cè)量設(shè)備
致力于讓中國(guó)客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測(cè)量與分析設(shè)備。
我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè)，產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評(píng)估與檢測(cè)設(shè)備；用于測(cè)量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備；以及評(píng)估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測(cè)量)設(shè)備，這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。
在日本，我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績(jī)。為提供**的售前和售后支持，我們?cè)O(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心，努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價(jià)值的服務(wù)。
我們致力于不斷提升產(chǎn)品價(jià)值和支持服務(wù)，做到讓客戶能主動(dòng)向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。
我們是大塚集團(tuán)的一員，繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide」
以及大塚集團(tuán)歷代的3個(gè)思想，即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」，并以此行動(dòng)。我們推出**產(chǎn)品，開展業(yè)務(wù)，為社會(huì)做出貢獻(xiàn)。
對(duì)于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說，天空是無限的。超越它，就會(huì)有一個(gè)全新的前沿世界。
利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量，為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。
Otsuka-people creating new products for better health worldwide
傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神，時(shí)刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號(hào)而努力奮斗。
大塚電子，通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品(設(shè)備)服務(wù)，在「健康和生活」的領(lǐng)域，不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。
日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社公司主營(yíng)光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導(dǎo)體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測(cè)量設(shè)備
ZETA電位·粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE
ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS
ZETA電位·粒徑·分子量·ELSZ-2000ZS
多樣品nano粒子徑測(cè)量系統(tǒng)(帶自動(dòng)取樣器)nanoSAQLA AS50
ZETA電位·粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE
多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA
ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo
日本Otsuka大塚電子膜厚 · 厚度評(píng)估儀器
功能材料評(píng)估儀器
日本Otsuka大塚電子半導(dǎo)體評(píng)估儀器
FPD相關(guān)評(píng)估儀器
光源照明評(píng)價(jià)儀器
熒光評(píng)估儀器
Smart膜厚儀
顯微分光膜厚儀 OPTM series
日本Otsuka大塚電子膜厚量測(cè)儀 FE-300
嵌入式膜厚檢測(cè)儀
線掃描膜厚儀【在線型】
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
線掃描膜厚儀【離線型】
光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
MCPD series 嵌入式膜厚測(cè)試型
OPTM series 嵌入型
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300
嵌入式膜厚檢測(cè)儀
顯微分光膜厚儀 OPTM series
日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社公司主營(yíng)光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導(dǎo)體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測(cè)量設(shè)備,提供包括納米粒度儀,粒徑分析儀,zeta電位儀,zeta電位分析儀,膜厚測(cè)量?jī)x,3D顯微鏡,膜厚分析儀,反射式膜厚儀,膜厚檢測(cè)儀,晶圓檢測(cè)設(shè)備,偏光片檢測(cè),光纖光譜儀,
