Topcon拓普康神崎現(xiàn)貨精選 二維光譜輻射計 返回列表頁

Topcon拓普康神崎現(xiàn)貨精選 二維光譜輻射計

Topcon拓普康神崎現(xiàn)貨精選 二維光譜輻射計

SR-5100是一款二維光譜輻射計，其性能與傳統(tǒng)的點測量光譜輻射計相當(dāng)。
該儀器使用可追溯光源進行校準(zhǔn)，確保高精度的亮度和色度測量。其
光譜特性（包括光源的波長特性、材料的光譜透射特性以及物體的光譜反射特性）可進行非破壞性、非接觸式測量，測量范圍為 500 萬 cd/m2 和 170 億 cd/m2，測量精度為1 nm。這款光學(xué)測量儀器有助于在各種產(chǎn)品中保持高質(zhì)量。SR
-5100 二維光譜輻射計可分析每個物體的光譜，從而能夠評估人眼或濾光片式二維亮度計難以評估的特性和發(fā)光產(chǎn)品，以及評估物體的反射光并進行模擬評估。其
應(yīng)用涵蓋了快速發(fā)展的Micro/Mini LED顯示器、材料、紋理、護膚、紡織染織、景觀等廣泛的行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域。