粉體材料粒度的檢測(cè)可采用篩分法、沉降法、電阻法、激光法、電鏡法等多種方法。每一種方法都有各自的特點(diǎn)，檢測(cè)結(jié)果也可能會(huì)有差異。對(duì)于粒度較細(xì)或比重較小的顆粒，采用后三種方法的檢測(cè)結(jié)果比較可靠。例如，我們通常加工zui大粒徑約為15~20μm的產(chǎn)品，這幾種儀器測(cè)量結(jié)果雖有差異，但相差不是很大。如果用沉降法測(cè)量，可能會(huì)產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差。

      顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。按粒徑大小分為若干級(jí)數(shù)，表示出每一個(gè)級(jí)數(shù)顆粒的相對(duì)含量，稱為微分分布；表示出小于某一級(jí)數(shù)顆粒的總含量，稱為累積分布。

      zui大粒徑是粒度分布曲線中zui大顆粒的等效直徑。平均粒徑是粒度分布曲線中累積分布為50%時(shí)的zui大顆粒的等效直徑。D90粒徑、D95粒徑、D98粒徑分別是分布曲線中累積分布為90%、95%、98%時(shí)的zui大顆粒的等效直徑。

      分析圖示的粒度分布曲線可以看出：如果以zui大粒徑來衡量粉體的等級(jí)，可標(biāo)為16μm或800目全通過。如果以D90粒徑（或“90%通過粒度”）來表示，粉體的等級(jí)可提高到6μm或2000目。如果以D50粒徑（或“平均粒徑”、“中位徑”）來表示，粉體的等級(jí)便會(huì)躍升到可到2.8μm或4500目。由此可見，選擇不同的積累分布數(shù)據(jù)來表示粒度指標(biāo)，會(huì)得到差異極大的不同概念。

      在此再舉一個(gè)例子，有一批超細(xì)粉體檢測(cè)數(shù)據(jù)。按照粒度分布表取得數(shù)據(jù)，zui大粒徑約為2.96μm（或4000目全通過），如要突出宣傳效果，也可以改變?yōu)镈90粒徑為1.54μm(或8000目)、平均粒徑為0.99μm(或12500目)的粒度指標(biāo)。

      由此推理，如想知道某一種超細(xì)粉是否達(dá)到幾千目甚至是一兩萬(wàn)目的細(xì)度，就要認(rèn)真了解使用什么類型的設(shè)備加工，是小樣試驗(yàn)還是成批生產(chǎn)隨機(jī)抽樣，用什么方法檢測(cè)，更要了解是在哪一級(jí)積累分布取得的粒度數(shù)據(jù)，才能了解這批粉體材料的真實(shí)質(zhì)量指標(biāo)。

      目數(shù)前加正負(fù)號(hào)則表示能否漏過該目數(shù)的網(wǎng)孔。負(fù)數(shù)表示能漏過該目數(shù)的網(wǎng)孔，即顆粒尺寸小于網(wǎng)孔尺寸；而正數(shù)表示不能漏過該目數(shù)的網(wǎng)孔，即顆粒尺寸大于網(wǎng)孔尺寸。例如，顆粒為-100目~+200目，即表示這些顆粒能從100目的網(wǎng)孔漏過而不能從200目的網(wǎng)孔漏過，在篩選這種目數(shù)的顆粒時(shí)，應(yīng)將目數(shù)大（200）的放在目數(shù)?。?00）的篩網(wǎng)下面，在目數(shù)大（200）的篩網(wǎng)中留下的即為-100~+200目的顆粒。