成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司

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JX-2000-顆粒粒形粒度分析儀
JX-2000-顆粒粒形粒度分析儀

地:成都市白馬寺街19號(hào)

貨物所在地:四川成都市

更新時(shí)間:2024/11/7 9:52:55

訪問(wèn)次數(shù):300

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供應(yīng)簡(jiǎn)介
JX-2000型顆粒粒形粒度分析儀,能準(zhǔn)確直觀顆粒形貌,并進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理,適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像機(jī)、圖像分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。


詳細(xì)介紹

JX-2000A顆粒粒形粒度分析儀

因?yàn)榉垠w形態(tài)各異,在借助激光粒度儀測(cè)試的同時(shí),選用JX-2000A顯微圖像粒度分析儀,從而能達(dá)到更準(zhǔn)確直觀粒度形貌,控制分析好產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像頭、圖像分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。

圖像分析的主要過(guò)程是:樣品經(jīng)顯微鏡放大成像,攝像頭攝得顆粒形貌圖像傳輸?shù)诫娔X,在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌,通過(guò)專有軟件計(jì)算分析,得到顆粒個(gè)數(shù)、面積、周長(zhǎng)、直徑、體積、長(zhǎng)徑比、短徑比等分布數(shù)據(jù)及圖像。同時(shí)具有D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數(shù)據(jù)分布圖表。由電腦顯示保存測(cè)試結(jié)果,也可打印粒度分布數(shù)據(jù)及顆粒形貌圖片。  

JX-2000A顆粒粒形粒度分析儀

1、 粉體材料:金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉。

2、 用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法

JX-2000A指標(biāo)與性能

1、測(cè)試范圍:0.5~3000μm

2、圖像zui大放大倍數(shù):4000倍

3、zui大分辨率:0.1μm

4、數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD):300萬(wàn)像素

5、顯微鏡:配置透射顯微鏡

6、標(biāo)尺刻度:10μm

7、分析項(xiàng)目:粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等

8、軟件運(yùn)行環(huán)境:Windows /XP/Vin7

9、接口方式: USB方式

軟件功能強(qiáng)大

可根據(jù)行業(yè)特殊要求,設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等分析軟件。采用平場(chǎng)消色差物鏡,zui大分辨率0.07微米,zui大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,圖像打印zui大倍數(shù)4000倍(A4幅面打印紙) 還可根據(jù)需要輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。




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