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產(chǎn)品分類品牌分類
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振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 可程式高低溫測(cè)試機(jī) 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī) 紫外線老化試驗(yàn)箱-烤漆 恒溫恒濕測(cè)試箱臥式 恒溫恒濕交變?cè)囼?yàn)箱 兩層式高低溫試驗(yàn)箱 三層式恒溫恒濕箱 溫濕度、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 步入式恒溫恒濕老化房 LED可靠性測(cè)試設(shè)備 恒溫恒濕箱/恒定濕熱試驗(yàn)箱 高低溫試驗(yàn)箱/溫度試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊箱 快速溫度變化試驗(yàn)箱 鹽霧試驗(yàn)機(jī)/鹽霧測(cè)試機(jī) 恒溫恒濕室/老化房 精密烘箱 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱 淋雨試驗(yàn)箱 砂塵試驗(yàn)箱 耐變黃試驗(yàn)箱 紫外線老化試驗(yàn)箱 蒸汽老化試驗(yàn)箱 真空干燥箱
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電池隔膜穿刺試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池臥式擠壓試驗(yàn)機(jī) 加速度沖擊試驗(yàn)裝置 洗滌試驗(yàn)裝置 電池燃燒試驗(yàn)裝置 GB/T 31467.3-2015產(chǎn)品清單 GB/T 31485-2015測(cè)試設(shè)備 GB31241-2014測(cè)試項(xiàng)目 電池振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 沖擊碰撞試驗(yàn)臺(tái) 電池洗滌試驗(yàn)裝置 電池?cái)D壓三綜合試驗(yàn)機(jī) 電芯強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)機(jī) UN38.3測(cè)試設(shè)備 GB31241保護(hù)板測(cè)試儀 鋰電池打壓測(cè)試儀 MT/T1051電池檢測(cè)設(shè)備 UL安全性能檢測(cè)設(shè)備 伺服蓄電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池臥式針刺試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池跌落試驗(yàn)機(jī) 電池短路測(cè)試儀 電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī) 電池針刺試驗(yàn)機(jī) 沖擊擠壓針刺三合一 電池沖擊試驗(yàn)機(jī) 模擬高空低壓試驗(yàn)箱 電池燃燒試驗(yàn)機(jī) 電池過(guò)充防爆箱 熱沖擊試驗(yàn)箱 溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 小物件跌落試驗(yàn)機(jī)
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工頻水平電磁振動(dòng)臺(tái) 工頻四度空間一體機(jī)振動(dòng)臺(tái) 工頻三向電磁振動(dòng)臺(tái) 三向電磁振動(dòng)臺(tái) 水平電磁振動(dòng)臺(tái) 模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 垂直電磁振動(dòng)臺(tái) 模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 四度空間一體機(jī)振動(dòng)臺(tái) 模擬三級(jí)公路顛簸試驗(yàn)臺(tái) 機(jī)械式振動(dòng)臺(tái) 模擬汽車運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 1~5000HZ電磁振動(dòng)臺(tái) 1~3000HZ電磁振動(dòng)臺(tái) 1~600HZ調(diào)頻電磁振動(dòng)臺(tái) 50HZ定頻電磁振動(dòng)臺(tái)
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紙箱抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī)/包裝壓縮儀 模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 跌落試驗(yàn)機(jī)/落下試驗(yàn)機(jī) 環(huán)壓/邊壓試驗(yàn)機(jī) 層間剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 爆破強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)/耐破儀 紙板戳穿試驗(yàn)機(jī) 油墨脫色試驗(yàn)儀 潑水度試驗(yàn)機(jī) 數(shù)字式紙張水分儀 吸水度皿 MIT式耐折強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙板撕裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙管抗壓試驗(yàn)機(jī)
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按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī) 小物件跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)定向跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)滑蓋壽命試驗(yàn)機(jī) 酒精耐摩擦試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)滾筒跌落試驗(yàn)機(jī) RCA紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī) 點(diǎn)讀機(jī)轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī) 筆記本轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī) 筆記本按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 插拔力試驗(yàn)機(jī)
溫度沖擊試驗(yàn)和循環(huán)試驗(yàn)之比較
目的 加速應(yīng)力試驗(yàn) 加速壽命試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ESS）
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-202 Method 107 IEC60749-25
JEDEC JESD22-A104-b IEC
MIL-STD-2164-85
試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)環(huán)境 比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境 極限使用環(huán)境
試樣 零部件 元器件，焊點(diǎn)（BGA，CSP） 成品
試樣尺寸 小 小 比較大
試驗(yàn)溫度范圍
-40（-55）～125（150）℃ -40（-65）～125（150）℃ -40（-0）～
溫度變化率
1槽法：大于
2槽法：大于
1槽法：小于
1槽法：小于
加速系數(shù) 100～500倍 比加速試驗(yàn)加速系數(shù)小 10～20倍
試驗(yàn)結(jié)果 設(shè)計(jì)信息 設(shè)計(jì)信息 生產(chǎn)品質(zhì)差異驗(yàn)證
溫度沖擊試驗(yàn)：
升溫/降溫速率不低于
溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于
引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
加速應(yīng)力試驗(yàn)：加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn)，以考察其失效機(jī)理。試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。
溫度循環(huán)試驗(yàn)：
溫度循環(huán)就是將試驗(yàn)樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ESS= Environmental Stress Screening）：
對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加速