產(chǎn)品分類品牌分類
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振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 可程式高低溫測(cè)試機(jī) 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī) 紫外線老化試驗(yàn)箱-烤漆 恒溫恒濕測(cè)試箱臥式 恒溫恒濕交變?cè)囼?yàn)箱 兩層式高低溫試驗(yàn)箱 三層式恒溫恒濕箱 溫濕度、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 步入式恒溫恒濕老化房 LED可靠性測(cè)試設(shè)備 恒溫恒濕箱/恒定濕熱試驗(yàn)箱 高低溫試驗(yàn)箱/溫度試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊箱 快速溫度變化試驗(yàn)箱 鹽霧試驗(yàn)機(jī)/鹽霧測(cè)試機(jī) 恒溫恒濕室/老化房 精密烘箱 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱 淋雨試驗(yàn)箱 砂塵試驗(yàn)箱 耐變黃試驗(yàn)箱 紫外線老化試驗(yàn)箱 蒸汽老化試驗(yàn)箱 真空干燥箱
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電池隔膜穿刺試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池臥式擠壓試驗(yàn)機(jī) 加速度沖擊試驗(yàn)裝置 洗滌試驗(yàn)裝置 電池燃燒試驗(yàn)裝置 GB/T 31467.3-2015產(chǎn)品清單 GB/T 31485-2015測(cè)試設(shè)備 GB31241-2014測(cè)試項(xiàng)目 電池振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 沖擊碰撞試驗(yàn)臺(tái) 電池洗滌試驗(yàn)裝置 電池?cái)D壓三綜合試驗(yàn)機(jī) 電芯強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)機(jī) UN38.3測(cè)試設(shè)備 GB31241保護(hù)板測(cè)試儀 鋰電池打壓測(cè)試儀 MT/T1051電池檢測(cè)設(shè)備 UL安全性能檢測(cè)設(shè)備 伺服蓄電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池臥式針刺試驗(yàn)機(jī) 動(dòng)力電池跌落試驗(yàn)機(jī) 電池短路測(cè)試儀 電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī) 電池針刺試驗(yàn)機(jī) 沖擊擠壓針刺三合一 電池沖擊試驗(yàn)機(jī) 模擬高空低壓試驗(yàn)箱 電池燃燒試驗(yàn)機(jī) 電池過(guò)充防爆箱 熱沖擊試驗(yàn)箱 溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 小物件跌落試驗(yàn)機(jī)
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工頻水平電磁振動(dòng)臺(tái) 工頻四度空間一體機(jī)振動(dòng)臺(tái) 工頻三向電磁振動(dòng)臺(tái) 三向電磁振動(dòng)臺(tái) 水平電磁振動(dòng)臺(tái) 模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 垂直電磁振動(dòng)臺(tái) 模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 四度空間一體機(jī)振動(dòng)臺(tái) 模擬三級(jí)公路顛簸試驗(yàn)臺(tái) 機(jī)械式振動(dòng)臺(tái) 模擬汽車運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 1~5000HZ電磁振動(dòng)臺(tái) 1~3000HZ電磁振動(dòng)臺(tái) 1~600HZ調(diào)頻電磁振動(dòng)臺(tái) 50HZ定頻電磁振動(dòng)臺(tái)
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紙箱抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī)/包裝壓縮儀 模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 跌落試驗(yàn)機(jī)/落下試驗(yàn)機(jī) 環(huán)壓/邊壓試驗(yàn)機(jī) 層間剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 爆破強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)/耐破儀 紙板戳穿試驗(yàn)機(jī) 油墨脫色試驗(yàn)儀 潑水度試驗(yàn)機(jī) 數(shù)字式紙張水分儀 吸水度皿 MIT式耐折強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙板撕裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙管抗壓試驗(yàn)機(jī)
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按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī) 小物件跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)定向跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)滑蓋壽命試驗(yàn)機(jī) 酒精耐摩擦試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)滾筒跌落試驗(yàn)機(jī) RCA紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī) 點(diǎn)讀機(jī)轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī) 筆記本轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī) 筆記本按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 插拔力試驗(yàn)機(jī)
“會(huì)有電池不合格”——JEITA與BAJ公布強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)概要
閱讀:1923 發(fā)布時(shí)間:2009-9-17
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電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì)(JEITA)與電池工業(yè)會(huì)(BAJ)于2007年4月25日,就雙方不久前制定的“筆記本電腦鋰離子充電電池安全利用手冊(cè)”,舉辦了媒體說(shuō)明會(huì)(參閱本站報(bào)道)。并在會(huì)上介紹了雙方目前正在探討的新提出的強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)的概要。
強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)指的是,驗(yàn)證鋰電池單元在異物混入導(dǎo)致內(nèi)部發(fā)生短路時(shí),是否會(huì)起火或破裂的試驗(yàn)。在JEITA與BAJ目前探討的內(nèi)容中,使用的是*充電狀態(tài)的鋰電池。試驗(yàn)需要在充電后,打開(kāi)電池單元的外部封裝,取出被電極膜包裹的電極,按照試驗(yàn)?zāi)康牟迦雽?dǎo)電性異物。之后,在穩(wěn)定的溫度下加壓,直到觀測(cè)到內(nèi)部短路引起的電壓下降為至。
試驗(yàn)希望驗(yàn)證的是,即使在上述條件下,電池也不起火和破裂。“在此之前,各廠商采取了其他方式測(cè)定內(nèi)部短路。但此次試驗(yàn)的條件是zui嚴(yán)格的。根據(jù)不同的試驗(yàn)條件,可能會(huì)有電池?zé)o法通過(guò)該試驗(yàn)。在這種情況下,廠商就需要修改設(shè)計(jì)”(電池工業(yè)會(huì)負(fù)責(zé)人)。以往,也有廠商采用釘刺等方式自主進(jìn)行內(nèi)部短路試驗(yàn)。而此次的方法能夠更真實(shí)地再現(xiàn)實(shí)際異物混入的狀況,實(shí)驗(yàn)精度更高。JEITA與BAJ希望在以往的IEC62133及JIS C8712試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)上,通過(guò)加入更為嚴(yán)格的試驗(yàn)項(xiàng)目,使起火、破裂等重大事故數(shù)量趨近于零。
異物為長(zhǎng)度小于1mm的物質(zhì),但使用的材料沒(méi)有公開(kāi)。異物的插入位置如下:(1)正極活性物質(zhì)與負(fù)極活性物質(zhì)之間,(2)集電體箔與活性物質(zhì)之間。JEITA與BAJ計(jì)劃另選時(shí)間公布該試驗(yàn)的詳細(xì)情況。此外,為了使該試驗(yàn)進(jìn)入性的試驗(yàn)程序,雙方已向IEC的有關(guān)部門(mén)提交了提案。
強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)指的是,驗(yàn)證鋰電池單元在異物混入導(dǎo)致內(nèi)部發(fā)生短路時(shí),是否會(huì)起火或破裂的試驗(yàn)。在JEITA與BAJ目前探討的內(nèi)容中,使用的是*充電狀態(tài)的鋰電池。試驗(yàn)需要在充電后,打開(kāi)電池單元的外部封裝,取出被電極膜包裹的電極,按照試驗(yàn)?zāi)康牟迦雽?dǎo)電性異物。之后,在穩(wěn)定的溫度下加壓,直到觀測(cè)到內(nèi)部短路引起的電壓下降為至。
試驗(yàn)希望驗(yàn)證的是,即使在上述條件下,電池也不起火和破裂。“在此之前,各廠商采取了其他方式測(cè)定內(nèi)部短路。但此次試驗(yàn)的條件是zui嚴(yán)格的。根據(jù)不同的試驗(yàn)條件,可能會(huì)有電池?zé)o法通過(guò)該試驗(yàn)。在這種情況下,廠商就需要修改設(shè)計(jì)”(電池工業(yè)會(huì)負(fù)責(zé)人)。以往,也有廠商采用釘刺等方式自主進(jìn)行內(nèi)部短路試驗(yàn)。而此次的方法能夠更真實(shí)地再現(xiàn)實(shí)際異物混入的狀況,實(shí)驗(yàn)精度更高。JEITA與BAJ希望在以往的IEC62133及JIS C8712試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)上,通過(guò)加入更為嚴(yán)格的試驗(yàn)項(xiàng)目,使起火、破裂等重大事故數(shù)量趨近于零。
異物為長(zhǎng)度小于1mm的物質(zhì),但使用的材料沒(méi)有公開(kāi)。異物的插入位置如下:(1)正極活性物質(zhì)與負(fù)極活性物質(zhì)之間,(2)集電體箔與活性物質(zhì)之間。JEITA與BAJ計(jì)劃另選時(shí)間公布該試驗(yàn)的詳細(xì)情況。此外,為了使該試驗(yàn)進(jìn)入性的試驗(yàn)程序,雙方已向IEC的有關(guān)部門(mén)提交了提案。