"工業(yè)的維生su"

稀土元素被譽為"工業(yè)的維生su"，具有豐富的磁、光、電等特性，在現(xiàn)代高新技術產(chǎn)業(yè)和功能材料中起到了至關重要的作用。這些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、發(fā)光材料、貯氫材料、磁制冷材料、光導纖維、磁光存儲材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超導材料、介電材料等，在航空、航天、信息、電子、能源、交通、醫(yī)療衛(wèi)生等領域得到了廣泛的應用。

高純稀土通常是指純度高于99.99%的稀土金屬或其氧化物。高純稀土材料中存在的其它稀土雜質(zhì)元素常會對最終產(chǎn)品的功能產(chǎn)生影響，隨著提煉技術的不斷改進，使得稀土氧化物純度可達到6N（行業(yè)上通指稀土雜質(zhì)元素含量），從而對于痕量稀土雜質(zhì)測定方法提出了更高的要求。針對高純稀土中的雜質(zhì)檢測會有下面難點。

主基體的濃度太高，會干擾雜質(zhì)元素的檢測

對于高純稀土中的雜質(zhì)檢測，往往樣品是5N（99.999%）及以上級別含量非常低，需要儀器有足夠高的靈敏度

案例

分析

測定6N級高純稀土氧化釓

(Gd2O3 )中的14種稀土雜質(zhì)

目前氧化釓中稀土雜質(zhì)檢測方法主要依據(jù)國標GB/T18115.7中的電感耦合等離子體發(fā)射光譜法( ICP-OES) 和質(zhì)譜法( ICP-MS)。

在ICP-OES分析中，由于Gd的譜線十分密集，對其他稀土雜質(zhì)元素的譜線干擾非常嚴重，測定范圍在0.001%-0.05%之間，難以滿足更高純度要求。

單桿ICP-MS 質(zhì)譜法具有更低的檢出限，但Gd具有7個天然豐度同位素，當采用SQ-ICP-MS方法進行氧化釓中其它稀土雜質(zhì)元素分析時，Yb和Lu將受到嚴重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+類多原子類干擾，在現(xiàn)有的GB/T18115.7標準方法中，針對氧化釓中鐿和镥的測定制定了采用C272柱分離釓基體后再進行ICP-MS法測定方案，各雜質(zhì)元素的最di定量下限可達0.0001%，能夠?qū)崿F(xiàn)近5N級釓純度的測定。但這種分離技術非常費時，步驟繁瑣，對方法測定結(jié)果的影響因素多。

"賽默飛三重四極桿ICPMS"

賽默飛三重四極桿ICPMS不經(jīng)任何基體分離手段，能輕松解決高純稀土元素中雜質(zhì)元素檢測的干擾問題，為高純稀土質(zhì)量提供有力質(zhì)量控制手段。

（點擊查看大圖）

實驗測定結(jié)果

（點擊查看大圖）

iCAP TQ 三重四極桿ICPMS-高純稀土元素檢測利器

超qiang抗干擾能力

利用 Q1的iMS智能化質(zhì)量篩選功能可有效地將高純稀土基體離子進行剔除，然后通過Q2碰撞反應池中加入特定的反應氣體，如氧氣或者氨氣，將待測稀土雜質(zhì)離子或者基體氧化物離子的質(zhì)量數(shù)進行遷移，解決了質(zhì)量數(shù)重疊干擾。

簡單操作

賽默飛Qtegra™ 智能科學數(shù)據(jù)處理軟件（ISDS™）通過自帶的Reaction Finder 軟件工具，能夠自動為分析任務確定*測量模式，幫助用戶方便地建立方法，節(jié)省了日常方法建立所消耗的時間。

為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案

賽默飛采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四極桿質(zhì)譜儀無需采用繁雜的分離稀土基體技術，就能輕松去除基體元素形成的干擾，從而準確測定稀土雜質(zhì)元素的含量，為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案以滿足行業(yè)發(fā)展的迫切需求。

如需合作轉(zhuǎn)載本文，請文末留言。