目錄:賽默飛色譜及質(zhì)譜>>痕量元素分析產(chǎn)品>> ELEMENT2/XR賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
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更新時(shí)間：2024-12-05 09:25:41瀏覽次數(shù)：3867評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 儀器種類 | 磁質(zhì)譜 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,農(nóng)業(yè) |
賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ELEMENT2/XR可以同時(shí)分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機(jī)和有機(jī)溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時(shí)信號(hào)的多元素檢出器；并能與多種進(jìn)樣和分離技術(shù)聯(lián)用，例如激光進(jìn)樣。目前，已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺(tái)，服務(wù)于環(huán)境監(jiān)測(cè)、核科學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。
賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ELEMENT2/XR是獲得認(rèn)可的痕量元素分析和定量的高效技術(shù)。 其應(yīng)用范圍從半導(dǎo)體工業(yè)到地質(zhì)和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學(xué)。 ICP-MS嚴(yán)重的限制是元素信號(hào)的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質(zhì)。 高質(zhì)量分辨率是識(shí)別和消除干擾的標(biāo)準(zhǔn)。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行痕量級(jí)多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點(diǎn)：
ELEMENT 2主要特點(diǎn)：
2、全自動(dòng)的常規(guī)分析
3、具有靈活性和易用性的先進(jìn)研究工具
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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