賽默飛雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的工具。

賽默飛雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢(shì)，在以下方面有杰出表現(xiàn)：

1、樣品測(cè)試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計(jì)使可縮短換樣和分析時(shí)間，顯著提高生產(chǎn)率；

2、檢測(cè)器線性范圍寬：檢測(cè)器線性范圍達(dá)12個(gè)數(shù)量級(jí)，可一次掃描同時(shí)檢測(cè)基體和痕量元素組成；

3、具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。

1、微秒級(jí)脈沖、高流速、大功率

相較靜態(tài) GD，該獨(dú)特技術(shù)具有出色的靈敏度和較低的多原子干擾，穩(wěn)定性絕佳、準(zhǔn)確度極高并能縮短分析時(shí)間，在金屬和合金檢測(cè)方面的準(zhǔn)確度為 ±30%（無需校準(zhǔn)）。

2、雙聚焦質(zhì)譜儀

高離子傳輸率結(jié)合低背景噪聲， 鑄就了無可比擬的信噪比和低至亞 ppb 級(jí)的檢出限。高質(zhì)量分辨率實(shí)現(xiàn)最佳選擇性和準(zhǔn)確度。

3、十二數(shù)量級(jí)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)

>擁有 12 個(gè)數(shù)量級(jí)線性動(dòng)態(tài)范圍的全自動(dòng)檢測(cè)器可在一次掃描中同時(shí)測(cè)定基體和超痕量元素。

4、高效易用的先進(jìn)軟件包

所有參數(shù)均由計(jì)算機(jī)控制，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)分析、數(shù)據(jù)評(píng)估以及與自動(dòng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)?LIMS 連接性。