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目錄:牛津儀器(上海)有限公司>> 快速掃描電容顯微鏡（SCM）

快速掃描電容顯微鏡（SCM）
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更新時(shí)間：2022-11-30 19:22:27瀏覽次數(shù)：318評(píng)價(jià)

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掃描電容顯微鏡（SCM）是一種表征材料納米電學(xué)性質(zhì)的原子力顯微鏡(AFM)成像技術(shù)，能夠應(yīng)用于Cypher和Jupiter XR原子力顯微鏡，它使用微波射頻(RF)信號(hào)來探測(cè)半導(dǎo)體和其它種類樣品中的電荷，載流子的位置，摻雜水平和摻雜類型(p型和n型)等。全新設(shè)計(jì)的Asylum Research SCM配件提供了比其他現(xiàn)有SCM模塊更高的性能和能力。創(chuàng)新包括： 詢價(jià) 增加到詢價(jià)列表 在詢價(jià)列表中查看此產(chǎn)品
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