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ICP-MS單細(xì)胞分析方法介紹

閱讀:217      發(fā)布時(shí)間:2017-06-02
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ICP-MS 單顆粒分析技術(shù)(SP-ICP-MS)的出現(xiàn)和發(fā)展使得不同基體和應(yīng)用中的金屬顆粒的快速檢測和分析成為可能,并因此開創(chuàng)了一個(gè)全新的研究領(lǐng)域。SP-ICP-MS 的特點(diǎn)是可以檢測到帶正電荷的離子產(chǎn)生的不連續(xù)的脈沖,并以微秒記的數(shù)據(jù)采集速率獲得時(shí)間分辨信號。這種先進(jìn)的數(shù)據(jù)采集能力使得開辟一系列新的研究領(lǐng)域成為可能。本文將SP-ICP-MS 應(yīng)用于SC-ICP-MS,介紹了ICP-MS 單細(xì)胞分析技術(shù)(SC-ICP-MS),該技術(shù)可快速分析單個(gè)細(xì)胞中的金屬含量。通過在細(xì)胞水平上監(jiān)測細(xì)胞吸收順鉑的能力,我們探究了抗癌藥物的有效性,加強(qiáng)了對細(xì)胞與含金屬的物質(zhì)之間交互作用的了解。SC-ICP-MS 可以讓用戶檢測單個(gè)細(xì)胞中本身含有的金屬量以及離子或者納米顆粒污染物,此方法可以減少實(shí)驗(yàn)中使用的細(xì)胞數(shù)量,并且無需復(fù)雜的樣品前處理過程。

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珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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