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NexION 2000 ICP-MS全新等離子發(fā)生器產(chǎn)品優(yōu)勢

閱讀:263      發(fā)布時間:2017-06-29
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自從PerkinElmer-SCIEX 公司于1983 年商品化電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)以來,它就成為了發(fā)展快的痕量元素檢測技術(shù),覆蓋了多個應(yīng)用領(lǐng)域。隨著中心抽頭接地線圈的設(shè)計突破,我們克服了ICP 源與質(zhì)譜儀成功聯(lián)結(jié)的障礙,從而將等離子體電勢降至低,消除了等離子體與接地MS 接口之間的二次放電問題。等離子體射頻發(fā)生器進一步發(fā)展后出現(xiàn)了*的不同步設(shè)計,在無活動部件的情況下,這種設(shè)計可以通過細(xì)微的頻率變化實現(xiàn)等離子體阻抗變化的即時匹配。另外,通過電平衡與地面電勢有關(guān)的等離子體使等離子體電勢保持在低水平。

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珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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