隨著納米顆粒興趣的增加，各種測(cè)試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-MS）分析金屬納米粒子成為有前途的技術(shù)之一。由于其高靈敏度、易用性和分析速度快等特點(diǎn)，ICP-MS是一種理想的技術(shù)，用于檢測(cè)納米顆粒的特性：無機(jī)成分、濃度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。ICP-MS分析挑戰(zhàn)之一為干擾導(dǎo)致錯(cuò)誤的分析結(jié)果。然而，這并非是一個(gè)問題，因?yàn)槠駷橹勾蠖鄶?shù)SP-ICP-MS應(yīng)用均沒有涉及到基體干擾或常規(guī)光譜干擾問題。例如，金和銀納米粒子在工業(yè)中應(yīng)用較廣，未受到常規(guī)干擾。另外，大多數(shù)納米顆粒存在簡(jiǎn)單基體中，該基體幾乎不產(chǎn)生干擾。隨著納米技術(shù)領(lǐng)域的拓展，分析需求增加，尤其是需要測(cè)定納米顆粒中受干擾的元素，如擴(kuò)展為其它受干擾的金屬納米粒子，如鈦，鉻，鋅或硅。例如，由于零價(jià)鐵納米（ZVI）顆粒具有*的化學(xué)特性和相對(duì)大的比表面積，使之更廣泛應(yīng)用于環(huán)境修復(fù)項(xiàng)目中。由于他們*的性質(zhì)，ZVI納米粒子具有以下作用：去除有機(jī)溶劑中氯，轉(zhuǎn)化肥料中有害化合物，降解殺蟲劑和固定金屬。然而，為監(jiān)測(cè)ZVI顆粒，鐵需被測(cè)定，因?yàn)榇嬖诨诘入x子體產(chǎn)生的信號(hào)ArO+對(duì)同樣質(zhì)量數(shù)（56）鐵的高豐度同位素（56Fe+豐度91.72%）形成嚴(yán)重干擾。消除這種干擾的有效方式是采用氨氣作為反應(yīng)氣的反應(yīng)模式ICP-MS。至今為止，已有的大多數(shù)SP-ICP-MS報(bào)道聚焦于無干擾的納米粒子，而這種反應(yīng)模式SP-ICP-MS還未被廣泛使用。本工作將專注于證明在反應(yīng)模式SP-ICP-MS下，NexION通用池技術(shù)應(yīng)用于測(cè)定納米粒子。

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