電子元件(和其他產(chǎn)品)中機(jī)械應(yīng)力和故障的一個(gè)主要起源是熱膨脹。測定材料開始變軟和內(nèi)應(yīng)力釋放效應(yīng)的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，以及爆板時(shí)間，這些是影響電子產(chǎn)品性能的關(guān)鍵因素。對于相關(guān)制造公司的經(jīng)濟(jì)成本而言,它們同樣至關(guān)重要。